WI-QCD-002=A0 BL成品检验规范.doc

修订记录
日期
版次
页次
条文
修订内容
变更人
备注
备注:此文件属深圳市宝鸿鑫科技有限公司财产,易不准复印或转变成其它形式使用.
目的
使公司背光标准能统一,特制订此检验规范,。
范围
适用于公司生产的所有背光成品进行检验。
定义
无
权责
IPQC,FQC, OQC:负责检验及品质记录
内容
抽样计划及允收水准
抽样计划及允收標准按C=0 抽样计划依照MIL-STD-105E Ⅱ单次抽样计划
抽样計劃允收水准检验工具及方法
IPQC , C=0 直流稳压电源、亮度分析仪、板规、游标卡尺
OQC , C=0 游标卡尺、板规、目视
,允收标准:0收,1退
外观基准
非点灯检查
检查方法:置上背光板于300-500 Lux以上环境亮度中,在距离25cm位置目视检查
不良项目
不良说明
判定
1、资料不符
机种数量、工号与流程单不符者
主缺
2、资料不明
流程单记录(产品型号、单号、数量、作业者、QC签章及其它应记录的内容)不全或错误
装箱记录不全或错误
次缺
3、数量不符
产品数量与装箱记录不相符
主缺
4、资料不全
流程单与装箱记录不齐全
主缺
5、缺流程单
缺流程单
次缺
6、混产品
同一批材料中混有两种(含)以上之型号
主缺
7、外形尺寸不符
产品的外形尺寸、PIN长、PIN距及附属材料符不符合,该型号特性和相关规范的要求,抽样数量:每批5PCS,0收1退
主缺
8、表面不良
(非发光区)
反射盖表面划伤、花纹、污迹等以25mm距离目视能清楚看见而影响使用
主缺
9、REF缺损
REF外形不完整,有缺边、缺角、破损、毛刺、凹陷、凸起而影响使用
次缺
、尺寸不符
产品的外形尺寸及附属材料等不符合该型号特性和相关规范的要求,抽样数量:每批 5PCS,0收1退
主缺

发光区内:
1. 杂物≥, 不可
2. ≤杂物≤,距离<10mm
主缺

铜箔、基材保护膜不可有有掀起。
主缺
、生锈
不可以明显的变色及生锈现象发生。
次缺
14毛边
脱模用的Guide的毛边依据限度样本之基准判定,。
主缺

长手方向的变形弯曲容许量±%以内,判定方法参照注(1)
主缺

扩散不可拱起超出导光板正面缺口高度,不影响品质
次缺
不良项目
规格说明
判定

PCB之SMD两端不可有翘起现象
主缺

保护膜、反射片上下两面不可有明显的脏污现象
次缺
19 TAPE漏贴
不可有漏贴、情形
主缺
99其它
上述若有不良项目不在内,请立即知会QE进行修订

注:(1)变形的判定基准
将制品放置于平台上,(如下图所示),在设计为直线的部位,取两端的支点附近最高的测定值,代入下式计算其变形弯曲容许量。
弯曲量=
点灯检查
检查方法:使用LED点亮治具使背光板点亮,其背光板于10 Lux以下环境亮度中,在距离