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光电信息学院
202X
直接探测技术
定义：探测器将入射功率直接转换成光电流并进行测量的过程称为直接探测。
将信号光直接入射到光电探测器的光敏面上，光电探测器只响应入射光辐射的强度（或辐射通量）。无论光载波是相干光还是非相干光，其系统只能解调出由光强度调制所形成的信息，不涉及光辐射的相干性质，因而又称为非相干探测。
红外波段微弱信号的探测
直接探测系统的结构示意图
直接探测的基本物理过程
光电探测器将信号光的光强变化转化为电压或电流的变化，再经后续电路处理（如滤波、放大或其他各种电学信号变换等），从而获得有用的信号。
黑体辐射对红外波段微弱信号的探测会产生严重影响，这种影响主要表现为两类不同形式的噪声
背景的发射率或温度（是时间和空间的函数）→1/f噪声；
光子噪声：在其他噪声均得到抑制的情况下，此类噪声决定了直接探测中可探测最小信号的极限。
产生原因：辐射体玻色-爱因斯坦系统的起伏现象。
讨论
噪声源包括：信号、背景、探测器产生的光子流
信号噪声
背景噪声
探测器噪声
光相干探测技术
第一部分
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