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钢熔化焊对接接头射线照相和质量分级及使用说明
引言
本标准规定 2-200mm母材厚度钢熔化焊对接接头(以下称为焊缝)的 x 射线和γ 射线照相方法以及焊缝的质量分级。
照相质量等级、照相范围和焊缝的质量等级,应按产品技术条件和有关的规定,也可以由设计、制造和使用单位依据产品的具体使用状况打算。
人员的要求
从事射线照相检验的人员必需持有国家有关部门颁发的,并与其工作相适应的资格证书。
评片人员的视力应每年检查一次。校正视力不得低于 并要求距离 400mm ,。
射线照相质量分级
按所需要到达的底片影象质量,射线照相方法为A级(一般级)AB级(较高级)和B级(高级)。选用B级时,焊缝余高应磨平。
外表状态
焊缝及热影响区的外表质量(包括余高高度)应经外观检查合格。外表的不规章状态在底片上的图象应不掩盖焊缝中的缺陷或与之相混淆,否则应做适当的修整。
射线源和能量的选择
管电压400kV以下的x 射线透照焊缝时,不同透照厚度TA所允许的最高管电压(工作范围) 见图1 。
γ 射线和高能x 射线
γ 射线和1MeV以上的x 射线透照母材厚度的范围见表1。
表 1 γ射线和1MeV 以上x射线透照厚度范围 mm
母材厚度T
射线源
A 级
AB级
B 级
x 射线1~2MeV
30~200
40~175
50~150
x 射线>2MeV
≥40
≥50
≥50
Iγ192
20~100
30~95
40~90
Co60
40~200
50~175
60~150
注:承受内透法(中心法或偏心法)时,母材厚度可为表1下限值的1/2。
图1 透照厚度和允许使用的最高管电压
工业射线胶片和增感屏
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胶片
胶片按银盐颗粒度由小到大的挨次,分为J 、J 、J
三种,见表2。可按象质级别由高而低
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的挨次选用。
1 2 3
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表 2
胶片的类型
胶片类型
感光度
反差
粒度
J
J
低
中
高
中
细
中
J
高
低
粗
1
2
3
增感屏
射线照相承受金属增感屏或不用增感屏,金属增感屏的选用见表 3,在个别状况下,可使用萤光增感屏,但只限于A级。
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胶片和增感屏的接触
胶片和增感屏在透照过程中应始终相互紧贴。
线型象设计
象质计是用来检查透照技术和胶片处理质量的。衡量该质量的数值是象质指数。它等于底片上能识别出的最细钢丝的线编号。
线型象质计的型号和规格
线型象质计的型号和规格应符合GB5618-85《线型象设计》的规定。
表 3
增感屏的选用
mm
射线种类
增感屏材料
前屏厚度
后屏厚度
<120kv
-
120~250kV
250~400kv
铅-
~
~
≥
1~3MeV
~
~
3~8MeV
铜、铅
~
~
8~35MeV
钽、钨、铅
~
-
Iγ192
铅
~
≥
Co60
铜、钢、铅
~
~
注:①钽屏或钨屏增感屏所获得的探伤灵敏度比铅屏高。
②使用铜屏或钢屏获得最正确探伤灵敏度,但比使用铅屏所需曝光时间长。
象质计的选用
依据透亮厚度和象质级别所需要到达的象质指数,选用GB5618-85规定的R10 系列的象质计,见表4。
透照厚度确实定见附录A。双壁单影的透照厚度应为单壁母材厚度加一个余高。
象质计的放置
线性象质计应放在射线源一侧的工件外表上被检焊缝区的一端(被检区长度的 1/4 部位), 钢丝应横跨焊缝并与焊缝方向垂直,细钢丝置于外侧。当射线源一侧无法放置象质计时,也可放在胶片一侧的外表上,但应通过比照试验,使实际象质指数值到达规定的要求。
承受射线源置于圆心位置的周向曝光技术时,象质计应放在内壁,每隔90°放一个。
比照试验的作法:截取一个与被检工件完全一样的短试块,在被检部位的内外外表端部各放一个象质计,承受与工件一样的透照条体进展透亮。观看所得到的底片以确定相应的象质指数。
象质计放在胶片一侧工件外表上时,象质计应附加“F”标记,以示区分。
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透照方法
按射线源、工件和胶片之间的相互位置关系,透照方式为纵缝透照法、环缝外透法、环缝内透法、双壁单影法和双壁双影法五种见图2。
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表 4
质指数 线 直 径 A 级 AB级 B 级
16 - ≤6
-
15
≤6
>6~8
14
≤6
>6~8
>8~10
13
>6~8
>8~12
>10~16
12
>8~10
>12~16
>16~25
11
>10~16
>8~20
>25~32
10
>16~25
>20~25
>32~40
9
>25~32
>25~32
>40~50
8
>32~40
>32~50
>50~80
7
>40~60
>50~80
>80~150
6
>60~80
>80~120
>50~200
5
>80~150
>120~150
4
>150~170
>150~200
3
>170~180
-
2
>180~190
-
1
>190~200
要求到达的象
象质计的选用
mm
透照厚度TA
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图2 透亮方式示意图
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几何条件
射线源至工件外表距离L ,L /d 与工件外表至胶片距离 L 的关系如图 3 所示,L
的诺模
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1 1 2 1
图见图5 和图6,d 为射线源有效焦点尺寸,可按附录B求出。
图3
工件外表至胶片距离L 与最小L /d值的关系图
2
2
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一次透照长度是指承受分段曝光时,每次曝光所检验的焊缝长度, 条的规定。
焊缝的透照厚度比为 K,见图4。环缝的 ,B ,纵缝的A级和AB级 ,B 。
T ”
K
T
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图4 焊缝透照厚度比示意图
式中:T—母材厚度mm;
T”—射线束斜向透照最大厚度mm。
射线束应指向被检部位的中心,并在该点与被检区平面或曲面的切面垂直,但需要时,也可从有利于觉察缺陷的其它方向进展透照。如承受双壁透
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照法时,一般应使射线偏离焊缝轴线所在的平面进展倾斜透照,以免两侧焊缝影象重叠。
无用射线和散射线的屏蔽
为削减散射线的影响,应承受适当的屏蔽方法限制受检部位的照耀面积。
图5 确定焦点至工件距离的诺模图
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为检查背散射,应在暗盒反面贴附一个B“”的铅字标记(B 的高度为 13mm,厚度为 )。假设在较黑背景上消灭“B”的较淡影象,说明背散线线防护不够,应予重照。如在较淡背景上消灭“B”的较黑影象则不作为底片判废的依据。
定位标记和识别标记
定位标记
表示焊缝透照部位的铅质定位标记包括中心标记(→↑)和搭接标记(→↑) (当抽查时称为有效区段标记)。
识别标记
被检的每段焊缝四周均应贴有以下铅质识别标记:工件编号、焊缝编号和部位编号、返修
透照部位还应有返修标记R 、R „„(其脚注1,2„„指返修次数)。
1 2
标记位置
上述定位标记和识别标记均需在底片适当位置显示,并离焊缝边缘至少5mm。搭接标记的安放位置见附录C”
工件外表应在作出永久性标记以作为对每张底片重位定的依据,工件不适合打印标记时,应承受具体的透照部位草图和其它的有效方法标注。
图6 确定焦点至工件距离的诺模图
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曝光曲线
应依据设备、胶片和增感屏按具体条件制做或选用适宜的曝光曲线,并以此选择曝光标准。为到达规定的底片黑度,曝光量推举选用不低于15mA.min 以防止用短焦距和高管电压
所引起的不良影响。
胶片处理
胶片的处理应按胶片说明书或公认的有效方法处理。处理溶液应保持在良好的状况中,应留意温度、时间和抖动对冲洗效果的影响。自动冲洗时,还应准确掌握传送速度及药液的补充。
底片质量
黑度
选择的曝光条件应使底片有效评定区域内的黑度均满足表5 的要求。
射线种类
底 片 黑 度 D
灰雾度D0
A 级AB级
B 级
~
X 射线
~
≤
γ射线
~
表 5 底片的黑度范围
注:表中D 值包括了Do 值
象质指数
底片上必需显示的最小钢丝直径与相应的象质指数见表4
影象识别要求
底片上的象质计影象位置正确,定位标记和识别标记齐全,且不掩盖被检焊缝影象。
在焊缝影象上,如能清楚地看到长度不小于10mm的象质计钢丝影象,就认为是可识别的。
不允许的假象
底片有效评定区域内不应有因胶片处理不当引起的缺陷或其它防碍底片评定的缺陷。
底片的观看
评片环境
评片应在专用评片室内进展。评片室内的光线应暗淡,但不要全暗,室内照明用光不得在底片外表产生反射。
观片灯
观片灯应有观看底片最大黑度为 最大亮度,且观看的漫射光亮度可调。对不需要观看
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或透光量过强的局部应承受适当的遮光板以屏蔽强光。经照明后的底片亮度应不小于30cd/m2,,观片灯的最大亮度应不小于100000cd/m2。
焊缝质量分级
依据缺陷的性质和数量,焊缝质量分为四级。
Ⅰ级焊缝内应无有裂纹、未熔合、未焊透和条状夹渣。
Ⅱ级焊缝内应无裂纹、未熔合和未焊透。
Ⅲ级焊缝内应无裂纹、未熔合以及双面焊和加垫板的单面焊中的未焊透。不加垫板的单面焊中的未焊透允许长度按表10条状夹渣 长度的Ⅲ级评定。
焊缝缺陷超过Ⅲ级者为Ⅵ级。
圆形缺陷的分级
长宽比小于或等于3 的缺陷定义为圆形缺陷。它们可以是圆形、椭圆形、锥形或带有尾巴(在测定尺寸时应包括尾部)等不规章的外形。包括气孔、夹渣和夹钨。
圆形缺陷用评定区进展评定,评定区域的大小见表6。评定区应选在缺陷最严峻的部位。
母材厚度T
≤25
>25~100
>100
评定区尺寸
10×10
10×20
10×30
表 6 缺陷评定区 mm
评定圆形缺陷时应将缺陷尺寸按表7 换算成缺陷点数,见表7。
缺陷长径mm
点
数
≤1
1
>1~2
2
>2~3
3
>3~4
6
>4~6
10
>6~8
15
>8
25
表 7 缺陷点数换算表 mm
不计点数的缺陷尺寸见表8。
表 8
不计点数的缺陷尺寸
mm
母材厚度T
缺陷长度
≤25
≤
>25~50
>50
≤
≤%T
当缺陷与评定区边界限相接时,应把它划为该评定区内计算点数。
当评定区四周缺陷较小,且认为只用该评定区大小划分级别不适当时,经供需双方协商, 可将评定区沿焊缝方向扩大到3 倍,求出缺陷总数,用此值的1/3进展评定。可扩大评定区的处理方法见附录D。
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