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电子技术实验基础知识
数字集成电路系列产品
TTL器件
74系列——民用系列:0~70°C
54系列——军用系列:-55~120°C
肖特基系列
74Sxx
低功耗系列
74Lxx
高速系列
74Hxx
标准系列
74xx
类型
型号
国内对应系列
74LSxx
低功耗肖特基系列
T4000系列
T3000系列
T2000系列
T0000系列
CMOS器件
分为4000、40000和14000系列
集成电路封装和引脚排列
双列直插DIP(Double In Line Package)
表面贴(扁平)SMD(Surface Mounting Device)
74LS00
1
2
3
4
5
6
7
14
13
12
11
10
9
8
凹口或小圆
孔作为标记
DIP
我国集成电路型号命名方法
GB3430-89
开头部分第一部分第二部分第三部分第四部分
C 字母数字字母字母
封装
器件工作温度
器件的型号
器件类型
表示器件符合国家标准
C T 54S20 M D
多层陶瓷双列直插
-55~125 °C
肖特基系列型号
TTL电路
符合国家标准
例2:CT54S20MD 双四输入与非门
国外集成电路型号命名方法
不同的公司有不同的命名方法
一般由前缀字母(字头)、代表型号的数字部分、尾注字母组成
不同的公司用不同的字头表示电路类型
数字集成电路使用注意事项
严禁电源极性颠倒!
严禁带电插拔元器件!
输出端不能并联使用(OC、TSL、TG门除外)
TTL电路的多余输入端最好不要悬空,以免干扰侵入,特别是复位端和置位端。
CMOS电路的多余输入端不允许悬空。
多余输入端应根据实际需要作适当处理(接电源、接地或与有用的输入端并联)。
数字实验箱介绍
2不相连。
芯片中电源、GND没有连好,需自己接线。
芯片不要乱拔或插。
数据开关:
1 0
逻辑开关:提供手动脉冲。左边接线时,按下开关提供下降沿( );右边接线时,按下开关提供上降沿( ) 。
数字电路实验常见问题
功能失效——实验前应进行元件的功能测试
器件故障
接线错误
最容易发生的错误
如多接、漏接、错接、元件引脚未插到插座上
连线过长、引脚悬空也可能引入干扰(插线不超过3层,电源、CP端加滤波电容)
特性失效:如带负载能力(静态特性)、上升沿、下降沿、延迟时间等(动态特性) ——专用集成电路测试仪
设计错误
仪器使用不正确,如示波器没有同步造成波形不稳定。
测试仪器故障
可先利用仪器的自检功能进行自校。
测试方法错误
在调试时,应采用自下而上的方法,分阶段连接调试,一步一步地进行,以便较容易地发现问题并排除故障。
在设计时,通常采用自上而下的方法,将系统划分为子系统、模块,直至实现具体的单元电路。
数字电路实验常见问题