X线头影测量分析 Cephalometric Analysis
简介
Hofrath and Broadbent-1931
我国于20世纪60年代初运用于临床
通过测量X 线头颅定位照相所得的影像,对牙、颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙、颌、颅面软硬组织的结构,使对颅面、牙、合的检查诊断由表面形态深入到内部的结构中去,它是正畸临床诊断及治疗设计的一种重要手段.
X线头影测量分析
主要运用
研究颅面生长发育
牙颌、颅面畸形的诊断分析
确定错合畸形的矫治计划
研究矫治中,矫治后的变化
外科正畸的诊断和矫治设计
下颌功能分析
局限性
标记点的定位都是相对
标记时存在个体差异
存在种族、性别的差异
传统X线片
数字化X线片
传统手描图
数字化描图
测量方法
硬组织测量标志点
软组织测量标志点
常用平面
常用角度
常用线距
硬组织测量标志点
颅部蝶鞍点(S)
鼻根点(N)
机械耳点(P)
上颌骨 前鼻棘(ANS)
上齿槽座点(A)
上中切牙点(U1)
下颌骨 下齿槽座点(B)
下中切牙点(L1)
颏前点(Pg)
颏下点(Me)
颏顶点(Gn)
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