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半导体测试设备监控系统.doc


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半导体测试设备监控系统
单位:东南大学
地址:南京市四牌楼2号邮编:210096
联系人:张志胜电话:**********
成果简介:
该项目获省科技支撑计划支持, Remoting 、数据库等技术开发了一套生产监控系统,解决了某半导体测试分厂生产效率停滞不前的技术瓶颈。
技术特点:采用三层客户机/服务器(C/S)架构。三层客户机/服务器体系结构通常指表现层,逻辑层和数据层:其中表现层给用户提供一个可视化界面;逻辑层是表现层和数据层的桥梁,它响应界面层的用户请求,执行任务并从数据层获取数据,然后将必要的数据传送给表现层;数据层主要包括数据层定义、维护数据的完整性、安全性,它响应逻辑层的请求,访问数据。
成熟程度:研制阶段。
合作方式:合作开发、技术服务等。

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  • 时间2015-09-05