X线头影测量学(Cephalometry)
四川大学华西口腔医院正畸教研室
定义
X线头影测量是对标准化定位的X线片所得的软硬组织影像进行定量的测量分析,从而了解牙合颅面软硬组织的结构,使对牙合颅面的检查诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。
应用
研究颅面生长发育
牙合颅面畸形的诊断分析
确定错合畸形的矫治设计
研究矫治过程中及矫治后的牙合颅面形态结构变化
外科正畸预测手术及矫治效果
下颌功能分析
X线头颅定位照相和头影图的描绘
头颅定位仪
左、右耳塞及眶点指针构成与地面平行的平面
自然头位法
X线照相
投照距离
X线球管至患者正中矢状面应不小于150cm
患者正中矢状面至胶片约10cm
X线中心线与头颅定位仪左右耳塞成一直线
患者体位:ICP位,唇自然放松
x线头影测量学 来自淘豆网m.daumloan.com转载请标明出处.