数电实验报告实验八寄存器功能测试及应用4.docx

数电实验报告实验八寄存器功能测试及应用4.docx实验名称寄存器功能测试及应用一、 实验目的1、 熟悉寄存器的电路结构和工作原理。2、 掌握集成移位寄存器74HC194的逻辑功能和使用方法。二、 实验设备及器件1、 数字逻辑电路实验板2、 74HC74双D触发器2片3、 74HC04六反相器1片。4、 74HC194四位双向通用移位寄存器1片。三、 实验原理移位寄存器是一个具有移位功能的寄存器,是指寄存器小所存的代码能够在移位脉冲的作川下依次左移或右移。既能左移又能右移的称为双向移位寄存器,只需要改变左、右移的控制信号便可实现双向移位要求。根据移位寄存器存取信息的方式不同分为:串入串出、串入并出、并入串出、并入并出四种形式。本实验选用的4位双向通用移位寄存器,40194或74HC194,两者功能相同,可互换使用,其逻辑符号及引脚排列如图8T所示。功能表如表8・1所示。16is|h|13I12Iii|io|g|4O194I74LS194)c和SrDoDiD2DaSlVss2| 3| 4| 5| 6| 7|8|图8_174HC194引脚排列其中DO、DI、D2、D3为并行输入端;QO、QI、Q2、Q3为并行输出端;SR为右移串行输入端,SL为左移串行输入端;SI、SO为操作模式控制端; RC为直接无条件清零端;CP为吋钟脉冲输入端。表8・1功能输入输出CPCRS1soSRSLDODlD2D3QOQIQ2Q3清除X0XXXXXXXX0000送数T111XXabcdabcd右移T101DsrXXXXXDsrQOQIQ2左移?110XDsrXXXXQIQ2Q3Dsr保持T100XXXXXXQ0nQlnQ2nQ3n保持T1XXXXXXXXQ0nQI"Q2"Q3n四、实验内容与步骤1、利用两块74HC74(四个D触发器)构成一个单向的移位寄存器。参照图8-2搭接电路,观察并记录结果于表8-2。图8-2右移移位寄存器CP输入数据D右移移位寄存器输出Q3Q2Q1Q00000001100012000103**********串出2、验证74HC194的功能,观察左移、右移功能。按图8—3接线,Cr、SI、SO、SL、SR、DO、DRD2、D3分别接至逻辑开关的输出插口;QO、QKQ2、Q3接至逻辑电平显示输入插I」。CP端接单次脉冲源。按表8—1所规定的输入状态,逐项进行测试。•5V 0示扬口 密盘卑1615|14〔13 121I109|VrdQoQiQ2QmCPSiSo74HC104CrSrDuDiDiTDjSlVss5|6|7|8£7抠逻轲开关轲出抽1丨图X-374LS194逻辑功能测试3、用74HC194组成七位串行输入转换为并行输出电路。按图8—4接线,进行右移串入、并出实验,串入数码白定;改接线路用左移方式实现并行输岀。清0"LTCP并行输出图8—4串并转换电路转换前,CR端加低电平,使1、2两片寄存器的内容清o,此njSiSo=n,寄存器执行并行输入工作方式。当第一个CP脉冲到來后,奇存器的输出状态Qo〜Q7为01111111,与此同时S】So变为01,转换电路变为执行串入右移工作方式,串行输入数据市1片的Sr端加入。随着CP脉冲的依次加