LED光强测试的最佳方案.doc

LED光强测试的最佳方案.docCIE-127的平均LED强度测试在制造资料中,通常光强作为LED的方向输出衡量标准的参数Z—标出。不幸的是,在很多情况下,这个术语使用不正确,。实际使用的程序是为了从LED的测量距离测量探测器上的通量干扰,并通过按照正对着的距离划分探测器区域来计算连续的角度。因为经常要在相对短的距离屮进行测量,在很多情况屮,与到探测器的距离相比LED的发射区域可能足够大,可看作一个扩展的区域而不是一个点光源。这就是上面所述的“近地”条件。也有可能,如果探测器里光源太近,当从探测器表曲的不同部分区观看,真实的光强值可能会变化。在LED测量的真实世界很常见的情况中,用传统的方式测量的工程量并不是强度而表示一种平均强度的形式;平均适用于不同独立的元索,这些元索构成了LED的发射表面的扩展区域和遍及探测器表面的不同部分。不幸的是,区别并不是对定义的准确用词的吹毛求疵,而是存在一个真实的问题,这种情况下,测量的结果和测量值的适用性严重地依赖于准确的测最条件。为了不同产品Z间以及不同制造厂商的相似产品的对照,赞同和定义一个精确的可用于很广泛的LEDs的测量几何图形很重要。在为了解决这个问题的一次尝试屮,CIE决定采用明确的针对LED测量的新的术语来描述这样的近地条件下测量的工程量并定义与Z相关的两个标准测量儿何图形。这两个测量儿何图形是建立在现在的T业实践和LEDs的生产商和使用者的观点的基础上。新的术语叫做平均LED强度。(平均LED光照强度或者平均LED辐射强度).这样的测星几何图形将被称为LEDs测量的CIE标准条件A和B°对于在这些条件下决定的平均LED强度,建议采用符号ILEDA和/LEDB。它们可用于辐射度的或者光度测定的工程量(例如LedAe*/LEDBv)。两种条件都要用到带有一个坏形入口孔的探测器,其孔瓯积为lOOmn?()o要将LED面向探测器放直,以便LED的机械轴线穿过探测器孔的屮心。构成条件A和BZ间的距离就是LED和探测器Z间的距离,此距离分别为:对于CIE标准条件A:316mm,和对于CIE标准条件B:,都是从LED的前端到光度测量仪或者辐射度测量仪的入口孔平面测量距