6西格玛管理中常用的度量指标.doc

6西格玛管理中常用的度量指标.doc6西格玛管理中常用的度量指标
6西格玛管理中常用的度量指标有：西格玛水平Z、百万机会缺陷
数DPMO、单位缺陷数DPU、首次产出率FTY、滚动产出率RTY等, 它们覆盖了各种连续型和离散型测量数据的情况。这里我们重点介绍 西格玛水平Z和百万机会缺陷数DPMO的统计与计算方法如下：
(-)西格玛水平Z：
对应于过程输出无偏移的情况，西格玛水平Z是指规格范围(USL・L
SL)与2o的比值，可由式5-6-1求得:
例5-6-1：某送餐公司为某学校送午餐，学校希望在屮午12： 00送到,
但实际总有误羌，因而提出送餐的时间限定在1仁55分至12： 05
分之间，即：LSL为你55分，USL为亿05分。过去一个星期来, 该送餐公司将午餐送达的时间为：11： 50. 11： 55> 12： 00、12： 0
5、12： 10,求该公司准时送餐的四格玛水平。
这里，将送达时间按相对于目标值亿00的差值进行变换，记录为・
10、・5、0、5、10,贝ij：
用样本标准差S估计总体标准差，得到=S=,将上述参数代入式
5-6-1,得：
。
(二)百万机会缺陷数 DPMO (Defects Million Opportunity)
在统计和计算DPMO时，我们先要明确下述概念：
缺陷：是指产品、或服务、或过程的输出没有达到顾客要求或超出规 格规定。
缺陷机会数：是指产品、或服务、或过程的输出可能出现缺陷之处的
数量，女口： 一块线路板有200个焊点就有200个出现焊接缺陷机会; 一张中请表有15个栏冃就有15个出现填表缺陷的机会。
如果我们统计了过程输出的缺陷数和缺陷机会数，我们就可以计算：
机会缺陷率DPO (Defects Per Opportunity),即每次机会中出现 缺陷的比率表示了每个样本量中缺陷数占全部机会数的比例。由式5 -6-3计算：
例5・6・2假定这100块电路板屮，每一个电路板却含有100个缺陷机 会，若在制造这100个电路板时共发现21个缺陷。
则
百万机会缺陷数 DPMO (Defects Per Million Opportunity) , DPO 常以百万机会的缺陷数表示，即DPMO=DPOx106,或由式5・6・4计算:
本例中，
DPMO值可以用来综合度量过程的质量。例如，某印刷电路板的制造 工厂在同一条生产线上可能生产不同规格的印刷电路板。每一种产品 都有不同的设