2 2 2 2 2 1 1 2 2 2 2 2 3 2 2 2 2 2 2 2 2 3 CN43 1258/ TP 计算机工程与科学 2005 年第 27 卷第 10 期 ISSN 1007 PU TER EN GIN EERIN G & SCIENCE Vol 27 ,No 10 ,2005 文章编号:1007 130X(2005) 10 0071 02 一种基于伪随机激励的混合信号 电路多故障测试的方法 2 2 2 2 A Multi Fault Testing Scheme for Mixed Signal Circuit s Based on Pseudo Rando 2m Stimulus 3 曹晓东,邝继顺 CAO Xiao dong , KUANG Ji shun ( 湖南大学计算机与通信学院,湖南长沙 410082) ( School puter munications , Hunan Unvierstity ,Changsha 410082 ,China) 摘要:本文提出了一种简单有效的、运用于模拟和混合信号电路的测试方法。在通过计算输入和输出的互相关函数 得到特征空间的基础上,我们运用泰勒展式分析特征空间得到测试对的测试时延。该方法改进了测试的效率,提高了测试 的正确性。 Abstract :This paper presents a simple and efficient testing scheme for analog and mixed signal circuits. We use the Taylor expansion to analyze the signature space , which is obtained from calculating the input output cross correlation of the DU T(Device Under Testing) , to get the delay time of signature pair. This method can improve the efficiency and accuracy of the analog and mixed signal circuit testing. 关键词:伪随机激励;泰勒展式;特征空间;互相关函数 Key words :pseudo random stimulus ; Taylor expansion ;signature space ;cross correlation function 中图分类号: TN707 文献标识码:A 也是随机信号; 再计算输入输出随机信号的互相关函数 1 引言 R xy ,分析 R xy ,从而判别电路有无故障。测试的基本框架如 图 1 所示。 混合信号电路(Mixed Signal Circuit) 的应用已经越来越 广,由此也带来了复杂的测试问题。一个混合信号电路包括 模拟电路、数字电路部分以及数模、模数转换器。模拟电路 和数模、模数转换器的测试难度比数字电路的大[1 ,2 ] 。模拟 元件的测试直接影
