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探针测试治具的制作方法
探针测试治具的制作方法
本实用新型涉及一种探针测试治具，用于测试包括多个屏体端子的屏体，包括绝缘基座及固定于绝缘基座上的若干探针和若干引线，绝缘基座具有两个相背的第一表面及第二表面，若干探针自所述第一表面背离该表图。
【具体实施方式】
[0026]本实施例中，如图1所示，屏体100的关键部件屏体端子11是由导电材料制作而成，因而具有导电性。屏体端子区域包括屏体端子U、屏体端子间隙112。在测试过程中屏体端子11起到输入或输出信号的作用。屏体端子间隙112的设计是为了防止相邻屏体端子11短路。同一屏体同一端子区域各端子长度13，端子宽度111，端子间隙112是相同的。但是同一屏体不同屏体端子区域总宽度12、屏体端子长度13，端子宽度111及端子间隙112一般是不同的。
[0027]参见图2所示,本实施例中,测试治具200包括绝缘基座21、及固定于所述绝缘基座21上的若干探针22和若干引线23，所述绝缘基座21具有两个相背的第一表面及第二表面，所述若干探针22自所述第一表面背离该表面延伸形成，所述若干引线23自所述第二表面背离该表面延伸形成。
[0028]若干探针22与第二表面的若干引线23 —一对应电性连接，相邻两根探针22之间的间距小于相邻两个屏体端子11的间距，该探针测试治具上若干探针22所占用的面积大于所述屏体上多个屏体端子11所占用的面积。
[0029]探针22及引线23分别呈矩阵式排布。每一根探针的直径221小于每一个屏体端子的宽度111。探针直径221为20 μ m，探针间隙222为30 μ m。
[0030]若干探针22所占用区域的形状呈矩形状。若干探针22所占用区域的总长度25大于屏体端子长度12，所述若干探针22所占用区域的宽度24大于所述屏体端子的总宽度13。若干引线23通过镭射方式贯穿所述绝缘基座21以电性连接所述探针22。
[0031]本实施中由于若干探针22的探针直径221和探针间隙222做的很小，已达到微米级，精度需求很高，而普通的焊接方式是无法达到这样的精度的，所以引线23是通过镭射方式穿入绝缘基座21与对应探针22固定连接的,该方式能达到微米(μπι)级的精度。
[0032]在开始探测前，若干探针22通过夹具(行业内普遍采用的下压式夹具)连接到屏体端子11上。本实施中，如图2所示，四个探针223、探针224、探针225、探针226处于同一个屏体端子11上，假设探针223表示探针是第一排第7列的探针并将其编码为(1，7)，则探针224表示探针是第一排第8列的探针，编码为(1，8)，探针225表示探针是第一排第9列的探针，编码为(I，9)，探针226表示探针是第一排第10列的探针，编码为(1，10)，依次类推，(m，η)则表示第m排第η列那颗探针。利用这样的编码可以实现探针与引线的一一对应。
[0033]需要说明的是，若干探针22的排列方式可以有很多种方式，不限于图3给出的方式，相应的探针编码可自由选定，甚至如图6所示的若干探针22的另一种可行的排列，只需要保证测试时能满足每一个屏体端子11上至少有一根探针准确定位的测试要求即可。同一个屏体端子11上有可能有很多根探针，如图5所示的有20根探针在同一屏体端子11上。
[0034]开始检测前，也要确保探针引线23、每一根探针与信号