密封圈老化测试装置制造方法
密封圈老化测试装置制造方法
本发明公开了一种密封圈老化测试装置，其包括收容座、温度探头及温度计。收容座包括本体和盖体，密封圈放置于本体的内表面，盖体安装于本体上并遮盖密封圈。温度探头安装在盖体的内表面，温度计而可以监控收容座10内部的温度。
[0026]在本实施方式中，温度计50为有线温度计。温度探头30探测收容座10内部的温度并通过连接部40传给温度计50，以监控收容座10内部的温度是否达到预定温度。
[0027]在其它实施方式中，温度计50为无线温度计。温度探头30将探测到的收容座10内部的温度直接传给温度计50。
[0028]在本实施方式中，预定温度为灯具在正常工作时密封圈的最高温度，如100°C。
[0029]温度计50包括发光源52，用于观察收容座10的内表面是否有密封圈因为老化而释放出的娃粉。在本实施方式中，发光源52为电筒。使用时,发光源52发出的光线照射于收容座10内且与其中一个内表平面16平行。
[0030]安装时，密封圈放置于本体12的内表面，盖体14安装于本体12上并遮盖密封圈，温度探头30安装在盖体14的内表面，连接部40安装在盖体14的外表面并与温度探头30连接，温度计50与连接部40连接，从而收容座10、温度探头30、连接部40及温度计50便组装为密封圈老化测试装置100。
[0031]测试时，将收容座10放入高温箱，温度计50放在高温箱外，温度探头30将探测到的收容座10内部的温度传给温度计50，使收容座10内部的温度达到预定温度并保持一定的时间，以对密封圈进行老化测试。
[0032]在本实施方式中，使收容座10内部的温度达到100°C并保持4小时。收容座10内部的温度通过温度探头30和连接部40传给温度计50。测试后，用温度计50上的发光源52照射收容座10，以查看收容座10的内表面是否有硅粉释放，以判断密封圈的密封性能。如有硅粉释放，则密封圈的老化测试不符合要求，即密封圈在高温下易老化变脆，密封性能较差。否则，密封圈的老化测试符合要求，即密封圈在高温下难老化变脆，具有良好的密封性能。
[0033]在其它实施方式中，收容座10内部的温度通过温度探头30直接传给温度计50。
[0034]因本发明的密封圈放入收容座内部，且通过温度探头探测收容座内部的温度并传给温度计，从而可以保证收容座内部的温度达到预定温度，进而保证了密封圈老化测试的准确性。
[0035]因密封圈在使用之前就做了老化测试，从而在使用过程中，不会因密封圈在高温下老化变脆而失去密封性能，从而灯具的外壳具有较好的防水性能，即保证了灯具外壳防水性能的可靠性。
[0036]因收容座10为一个密封的容器，即密封圈置于一个密封的容器内，密封圈在老化过程所释放出的硅粉全部粘在收容座10的内表面，从而保证了密封圈老化测试的准确性。而且发光源52发出的光线照射于所述收容座10内且与其中一个内表平面16平行，可以清楚的观察出收容座10的内表面是否有密封圈释放出的硅粉，进一步提高了密封圈老化测试的准确性。
[0037]因预定温度为灯具在正常工作时密封圈的最高温度，从而密封圈老化测试时的温度与密封圈工作时的温度一致，进而保证了密封圈老化测试的准确性。
[0038]以上所述是
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