一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺的制作方法.docx

一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺的制作方法
一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺的制作方法
本发明公开了一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，包括如下步骤：从待测样品上切取预定长度的试样坯料；沿试样坯料长度方向或沿垂直于试样坯料长度于火花台激发口直径的钢片。
[0012]优选地，试样半成品为完全覆盖火花台激发口的圆形试样或多边形试样。
[0013]本发明提供的一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，为原始尺寸小于光电直读光谱分析仪火花台的激发口直径的圆盘条或钢片条提供了一种制备光电直读光谱分析仪用试样的方法，能够将火花台激发口完全覆盖，不会导致激发室漏气，实现了光电直读光谱分析，保证了产品的分析质量。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1为本发明提出的一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺的工艺流程图。
[0015]图2为本发明提出的一种光电直读光谱分析仪用矩形试样的结构示意图。
[0016]图3为本发明提出的一种光电直读光谱分析仪用圆形试样的结构示意图。
【具体实施方式】
[0017]如图1所示，图1为本发明提出的一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺的工艺流程图。
[0018]参照图1，本发明提出的一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，包括:
[0019]S1、从待测样品上切取预定长度的试样坯料；
[0020]S2、沿试样坯料长度方向或沿垂直于试样坯料长度方向的方向将试样压扁，得到将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖的试样半成品；
[0021]S3、对试样半成品的分析面用平面砂轮沿同一方向进行打磨，打磨完成后用酒精擦除分析面上的碎屑得到试样成品；
[0022]S4、清扫试样成品的背部的绝缘物，使试样成品与样品台接触，从而将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖。
[0023]实施例1
[0024]如图2所示，图2为本发明提出的一种光电直读光谱分析仪用矩形试样的结构示意图。
[0025]参照图2，本发明提出的一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，包括如下步骤:
[0026]S1、从待测样品上切取预定长度的试样坯料，待测样品I为长边和短边均小于火花台激发口直径的钢片；
[0027]S2、沿试样坯料长度方向或沿垂直于试样坯料长度方向的方向将试样压扁，得到将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖的多边形试样半成品；
[0028]S3、对试样半成品的分析面用平面砂轮沿同一方向进行打磨，打磨完成后用酒精擦除分析面上的碎屑得到试样成品；
[0029]S4、清扫试样成品的背部的绝缘物，使试样成品与样品台接触，从而将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖。
[0030]实施例2
[0031]如图3所示，图3为本发明提出的一种光电直读光谱分析仪用矩形试样的结构示意图。
[0032]参照图3，本发明提出的一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，包括如下步骤:
[0033]S1、从待测样品上切取预定长度的试样坯料，待测样品2为直径小于火花台激发口直径的圆钢；
[0034]S2、沿试样还料长度方向或沿垂直于试样还料长度方向的方向将试样压扁,得到将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖的圆形试样半成品；