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精密测量(二).ppt


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文档列表 文档介绍
项目十精密测量(二)
要求与目的
掌握背光光源聚焦操作;
掌握工件定位与基准设定操作;
掌握测量特征操作;
掌握构造特征操作;
掌握数据报告输出操作;
了解光学式坐标测量仪构造原理。
重点难点
背光光源概念;
正确的聚焦设置方法;(难点)
工件定位和基准设定;
测量与构造概念;(难点)
测量与构造特征操作;
测量结果输出。
1. 光学式坐标测量仪
现阶段,学生实训所采用的光学式坐标测量仪是美国ogp公司所生产的Flash系列Flash200。
实训仪器设备
光学式坐标测量仪
光学式坐标测量仪属于光电位移精密测量技术设备。它是以光栅(长光栅、圆光栅和编码盘)为位移基准、以光栅莫尔条纹为技术基础对几何位移量(长度和角度)进行精密测量的一种先进的精密测量技术设备。
构造原理
1代表照明器;2代表光栅副;3代表驱动器;4代表光电接收转换器;5代表电子学处理器。
Flash200系列性能指标
2. Measure-XTM软件基本介绍
Measure-XTM是一款几何测量软件,用于ogp公司MVP系列光学式坐标测量仪。它由QVI控制系统驱动,软件功能不仅强大,具备常规几何测量的全部功能,而且拥有易于操作的图表界面。
Measure-XTM图表界面上,主要有图像区域窗口、图像
窗口控制、模型窗口、模型窗口控制、程序列表窗口、程序
列表控制区域、打印数据输出窗口、打印数据控制、DRO
区域窗口、工具/目标控制区域窗口、照明控制区域窗口、
工具和光标控制窗口、工具箱区域窗口等。
图像区域窗口
图像窗口控制

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  • 时间2011-08-27
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