第七章 X射线衍射_PPT幻灯片第七章 X射线衍射
第一节 X射线的性质
第二节 X射线的产生及X射线管
第三节 X射线谱
第四节 X射线与物质的相互作用
第五节 X射线衍射方向
第六节衍射方法
第七节 X射线衍射强度
第八节多晶体分析方法
第九节 X射线物相分析
第一节 X射线的性质
X射线的本质与可见光、红外线、紫外线以及宇宙射线完全相同,均属电磁波或电磁
辐射,同时具有波动性和粒子性特征,波长较可见光短,约与晶体的晶格常数为同一数量级,在10-8m左右。X射线波长的单位用纳米(nm)来表示,也常用埃来表示。
图7-1 电磁波的波长分布范围
第一节 X射线的性质
图7-3 靶的焦点形状及接收方向
第三节 X射线谱
一、连续X射线谱
如果我们对X射线管施加不同的电压,再用适当的方法去测量由X射线管发出的X射线的波长和强度,便会得到X射线强度与波长的关系曲线,称之为X射线谱。阳极X射线在不同管压下的X射线谱,在管压很低,小于20 kV时的曲线是连续变化,故称这种X射线谱为连续X射线谱。
一、连续X射线谱
一般晶体分析用X射线机的使用电压约为30-50kV,而管流为20-40mA左右,视X射线的允许功率而定.
图7-4 连续与特征X射线谱
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