实验三 数据通路.doc

计算机组成原理实验报告
实验三数据通路实验
学院:计算机学院
班级:2010211306
学号:10211309号
姓名: 朱璇
一实验目的

,构成新的数据通路
,以及排除故障的一般原则和方法
,在出线故障的情况下,独立分析故障现象,并排除故障.
二实验电路
三实验任务

-SW0向RF中的四个通用寄存器分别置入以下数据:R0=OFH,R1=0F0H,R2=55H,R3=0AAH.
,,依次将R1,R2,R3中的数据分别置入RAM的0F0H,55H,0AAH单元.
,55H单元数据写入R1,0F0H单元数据写入R2,-R3中的数据读出,验证数据的正确性,并记录数据.


实验步骤
(一)实验连线
数据通路
RS0
RS1
RD0
RD1
WR0
WR1
LDRi
LDDR1
模拟开关
K0
K1
K2
K3
K4
K5
K6
K7
数据通路
RS_BUS#
SW_BUS#
ALU_BUS#
RAM_BUS#
LR/W#
CEL#
LDAR#
模拟开关
K8
K9
K10
K11
K12
K13
K14

数据通路
AR+1
CER#
Cn#
M
S0
S1
S2
S3
模拟开关
地
VCC
VCC
地
地
地
地
地
(二)向双端口寄存器RF中写入数据
(WR0)=0, K5(WR1)=0, K6(LDRi)=1, K8(RS_BUS#)=1, K9(SW_BUS#)=0, K10(ALU_BUS#)=1, K11(RAM_BUS#)=1, K13(CEL#)=-SW0=0FH, 按QD按钮,将0FH写入R0.
(WR0)=1, K5(WR1)=0,置SW7-SW0=FOH, 按QD按钮,将FOH写入R1.
(WR0)=0, K5(WR1)=1,置SW7-SW0=55H, 按QD按钮,将55H写入R2.
(WR0)=1, K5(WR1)=1,置SW7-SW0=AAH, 按QD按钮,将AAH写入R2.
(三)用8位数据开关向AR送入地址0FH,然后将R0中的数据0FH写入双端口存储器中.
(LDRi)=0, K8(RS_BUS#)=1, K9(SW_BUS#)=0, K10(ALU_BUS#)=1, K11(RAM_BUS#)=1, K13(CEL#)=1,K12(LDAR#)=-SW0=0FH, 按QD按钮, 将0FH写入地址寄存器AR.
K2(RD0)=0, K3(RD1)=0, K6(LDRi)=0, K7(LDDR1)=1, K8(RS_BUS#)=1, K9(SW_BUS#)=1, K10(ALU