集成电路测试176044数字集成电路测试 与可测试设计
思考题
测试的对象是什么?
测试的目的是什么?
测试的内容是什么?
测试的方法是什么?
测试的工具是什么?
测试的平台是什么?
测试的未来是什么?
第一章引言
测试哲学
测试的作用
数字与模拟VLSI测试
VLSI发展趋势对测试的影响
测试哲学
什么是VLSI测试?
在实验中运行被测系统并分析其响应结果,以判断此系统是否正确运转。
测试的三个组成部分:
1. 运行被测系统
2. 分析其响应
3. 做出正确判断
测试哲学
验证、测试和诊断
验证(verification):验证系统级或寄存器传输级功能是否正确
测试(testing):测试裸片(die)或芯片(chip)功能是否满足设计要求
诊断(diagnose):诊断裸片或芯片失效的原因
测试哲学
测试的风险
合格产品PQ
不合格产品
FQ
通过测试的产品 P
未通过测试的产品 F
Prob(P|PQ)
Prob(F|PQ)
Prob(P|FQ)
Prob(F|FQ)
测试的作用
作用:检验产品是否存在问题。
好的测试过程可以将所有不合格的产品挡在到达用户手中之前。
测试失败的可能原因:
1. 测试本身存在错误;
2. 加工过程存在问题;
3. 设计不正确;
4. 产品规范有问题。
数字与模拟VLSI测试
输入、输出信号
测试仪器
测试方法和理论
失效判别方式
DUT
输入信号
输出响应
VLSI发展趋势对测试的影响
提升芯片的时钟频率
即时测试
ATE的成本
EMI
VLSI发展趋势对测试的影响
晶体管密度的增长
测试复杂性
特征尺寸与功耗
电流测试
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