数字电路实验中常见故障.ppt

数字电路实验中常见故障及排除方法
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数字电路实验中常见故障及排除方法
一、集成逻辑门实验常见故障
二、组合逻辑电路设计实验常见故障
三、触发器实验常见故障
四、计数器实验常见故障
五、集成电路综合应用实验常见故障
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一、集成逻辑门实验常见故障
现象一:集成电路芯片发热
原因1: 电源极性接反
排除方法:将电路断电,检查电源极性是否接错。
原因2:  芯片损坏
排除方法: 换一片相同型号的芯片
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一、集成逻辑门实验常见故障
现象二:当输入信号变化,逻辑门输出不变
原因1: 芯片电源,地线接触不良
解决方法:用三用表直流电压档测量芯片的电源和地线,检测电压是否正确。
原因2: 输出信号至芯片的信号线接触不良
解决方法: 断开电路,用三用表电阻档测量信号线是否接触良好。
原因3: 芯片型号错
解决方法: 重新审核芯片型号,是否用错
原因4: 芯片损坏
解决方法: 换同型号芯片
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二、组合逻辑电路设计实验常见故障
现象一:芯片发热

原因1:  多个芯片发热
解决方法:检查总电源极性是否接反。
原因2: 某一个芯片发热
解决方法:检查此芯片电源极性是否接反或芯片已损坏。
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二、组合逻辑电路设计实验常见故障
现象二:改变电路输入而输出始终保持不变
原因1:  电路中芯片电源、地线接触不良
解决方法:用三用表直流电压档测量电路中芯片的电源、地线,观察电压是否正常。
原因2: 电路中某个芯片型号错
解决方法: 重新审核芯片型号
原因3: 电路中某个芯片已损坏
解决方法: 换同型号芯片
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二、组合逻辑电路设计实验常见故障
现象三:电路输出部分状态不正确
原因1: 电路中信号线接错
解决方法:对照电路图仔细检查每一根信号线连接是否正确
原因2: 电路中信号线有断线或接触不良
解决方法:用三用表电阻档测量每一根信号线是否连接良好
原因3: 电路中二个或二个以上逻辑门的输出端相连。
解决方法:实验中所用逻辑门均为推挽输出。而推挽输出端是不允许相互连接的。
原因4: 电路设计可能错误
解决方法:重新审核设计电路是否正确。
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三、触发器实验常见故障
现象一:触发器逻辑功能、间断正常
原因: 触发器的置0或置数端悬空。
解决方法:将触发器的置0,置1端接高电平。
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三、触发器实验常见故障
现象二:当改变输入而触发器的输出始终保持不变时
原因1: 触发器置0或置1端被接至低电平
解决方法:用三用表直流电压档测量置0或置1端,测量是否为高电平。
原因2: 对触发器边沿触发特性概念不清,电路一切正常。因概念不清,操作错误。
解决方法:重新看触发器的基本原理。
原因3: 电路连接错。
解决方法:对照电路图检查信号连接.
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四、计数器实验常见故障
现象一:计数器不计数:
原因1:计数器芯片控制引脚悬空
解决方法:计数器芯片一般都有控制引脚输入,用来控制芯片置数、清零所有控制引脚都不要悬空处理,悬空容易引入干扰。
原因2: 计数器芯片控制引脚信号线接触不良
解决方法:用三用表直注电压档测量芯片控制引脚电平状态,从而判断信号线是否接触良好。
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