可靠性鉴定试验指南（精选）.doc

Q / ZX
深圳市中兴通讯股份有限公司企业标准
( 可靠性技术标准)
Q/ZX - 1999

可靠性鉴定试验指南
1999-08-26 发布 1999-09-01 实施
深圳市中兴通讯股份有限公司发布
前言
本标准规范了产品的的可靠性鉴定试验(寿命为指数分布的产品)所进行的工作,并提出了相关工作的方法。作为各相关部门进行可靠性鉴定试验的主要依据之一,在具体工作中可以根据情况参照进行。
本标准由Q/ZX -1998修订而成,针对原标准中的加速系数的计算作了详细的说明,规定了试验报告的形式和内容。
本标准自实施之日起代替Q/ZX -1998。
本标准由深圳市中兴通讯股份有限公司质量企划中心可靠性部提出,技术中心技术管理部归口。
本标准起草部门:质量企划中心可靠性部。
本标准主要起草人:林国勇。
本标准于1998年6月首次发布,于1999年8月第一次修订。
Q/ZX - 1999
深圳市中兴通讯股份有限公司企业标准
(可靠性技术标准)
可靠性鉴定试验指南



Q/ZX – 1999
代替 Q/ZX – 1998
1 范围
本标准规定了深圳市中兴通讯股份有限公司产品可靠性鉴定试验(寿命为指数分布的产品)的方法和要求。
本标准适用于深圳市中兴通讯股份有限公司的电子产品的可靠性鉴定试验。
注:从理论上说,包含未筛选剔除早期故障的产品寿命不是指数分布,因此使用本指南的产品应经过较严格的筛选才投入试验。
2 引用标准
GJB 451-1990 可靠性维修性术语(MIL—STD—721C)
GJB 813-1990 可靠性模型的建立与可靠性预计(MIL—STD—756B)
GJB 899-1992 可靠性鉴定与验收试验(MIL—STD—781D及MIL—HDBK781)
GJB/Z299B-1997 电子设备可靠性预计手册(MIL—STD—217F)
YD 282-1982 邮电通信设备可靠性通用试验方法。
YD/T 642-1993 载波通信设备可靠性指标及试验方法。
3 定义
本标准采用下列定义。
可靠性试验(reliability test)
为分析、评价产品的可靠性而进行的试验。
可靠性鉴定试验(pliance test)
为确定产品可靠性与设计要求可靠性的一致性,用有代表性的产品在规定条件下所作的试验,并以此作为批准定型的依据及主要设计、工艺更改的鉴定。
定时截尾试验
达到规定的累计试验时间就截止的试验。
截尾序贯试验
在试验过程中,将累计的相关试验时间和累积的相关失效数与规定的判断接收、拒收或继续试验的标准进行比较,作出判决。
环境应力筛选(Environmental Stress Screening)
是在电子产品上施加随机振动及温度循环等应力,以鉴别和剔除产品工艺和元件引起的早期故障的一种工序或方法,简称ESS。
试验剖面(testing profile)
可靠性试验所用各种试验条件(工作条件与环境条件┅)的组合顺序。在试验剖面的一个周期内,应明确诸工作条件。环境条件存在于哪一段时间区间内及它们之间的相互关系。
关联故障(relevant failure)及非关联故障(nonrelevant failure)
已经证实是未按规定的条件使用而引起的故障,或是已经证实仅属某项将不采用的设计所引起的故障叫
“非关联故障”;否则叫“关联故障”。
关联故障用来评估产品的可靠性,包括:
设计或工艺故障,即由于产品或零部件设计缺陷或工艺不可靠造成的故障。例如电路在规定容许的高温下性能漂移超过容许限,电装的焊点虚焊等等;
零部件故障,即由于零部件故障引起的产品故障。例如CMOS电路由于闩锁效应使电路不能完成规定功能等等。在可靠性试验中,如果有几个相同型号的元器件一起出故障,如果判定它们不是从属故障,则应算作出现了几个独立的关联故障;
耗损零件故障,某些有规定使用寿命的零件,例如磁控管,如果试验前已明确使用寿命,在试验中,在使用寿命期间出现故障算关联故障(在使用寿命期后出现故障是非关联故障);
多重故障。如果在可靠性试验中有多种零件一起出故障,如能判定其中任一个零件的故障均能独立地阻碍产品正常工作,则每个故障应计为关联故障;
间歇故障(有时是瞬间故障)。任一产品的间歇故障在第一次出现时应算作关联故障,但在产品同一部位相继出现的同一间歇故障不应把关联故障重复计数;
BITE(机内测试设备)故障。BITE的每一次虚警,如果是独立的应计为一个关联故障。
注:对于可靠性试验中出