软硬件并举　高性能系统测试再添新员.doc

软硬件并举　高性能系统测试再添新员.doc软硬件并举高性能系统测试再添新员面对越来越复杂的系统测试难题,测试设备和工具厂商都在想方设法研究测试工程师所遇到的困难和解决办法,用更具说服力的软硬件产品满足当今以及未来高速、高性能系统的测试要求。泰克高性能示波器迎接串行测试挑战随着PCI-Express、RapidlO、HDMI等串行总线技术的发展,系统设计师越来越青睐串行数据结构,同时,并行数据结构解决方案的时钟同步问题在高频下愈显突出,而且,在高数据吞吐量的情况下,其架构也过于复杂。因此,采用串行架构进行设计已经成为系统研发的发展趋势。与此同时,工程师又不得不面对相应的测试难题,如信号探测点的探接、信号完整性的验证、互操作性以及一致性测试等。针对以上问题,泰克公司于近期推出了一款高性能示波器DSA70000。其最突出的特点就是具有高带宽和采样速率,其最高值分别达到了20GHz和50GS/s,而且可以在4个通道上同时实现,这样的带宽可以满足工程师捕获5次谐波的要求。该系列示波器在所有通道上都能同时支持超高带宽、超长存储、高速取样和波形快速捕获。这些特性对多通道高速串行数据架构的测试尤其重要,这类架构需要对通道时间偏移干扰进行多通道分析。 DSA70000具备200M的存储深度,与50GS/s的取样速率结合,在FastAcq采集模式下,每秒可以捕获超过300000个波形,这大约是其它同类产品的1000倍。而且,其采用的DPX架构可对信号行为进行严密监测和深度分析。这款示波器之所以能实现如此高的速率,是因为它采用了新近推出的高性能硬件平台,即第4代DPX。该平台采用了IBM的7HP硅锗(SiGe)技术,7HP硅锗技术很好地满足了对于数据传输的高速、低噪声、高线性和低功耗应用的开发要求。 DSA70000还可提供可选择的DSP处理功能并通过高带宽StraightFlexTip-Clip装置来补偿P7313ZActive差分探头的响应,以便借助探头附件发挥系统的潜能。增强的带宽性能(平坦幅度响应、线性相位响应与匹配通道)和降低噪声所带来的系统优势由此得以从平台的核心部分一直延伸到探针的尖端。借助这项新功能,经由探针捕获的任何信号在保真度上同直接连接在示波器信号输入端获取的信号没有太大区别。同时,伴随着DSA70000,泰克还推出了有源差分探头P7500,它采用TriMode测量转换技术设计。P7500与DSA70000结合,可以给工程师提供足够的能力来调试和验证速率高达10Gb/s的串行数据回路。安捷伦最新DDR2测试软件挖掘示波器应用潜力在测试设备不断推陈出新的同时,随着被测系统复杂性的提升,对相应的软件工具也提出了更高的要求。安捷伦科技公司就于近期推出了一款专门针对DDR2的、基于示波器的测试应用软件N5413A。 DDR2测试所面对的最大难题就是区分混叠在一起的读/写信号,以及去除读/写以外的高阻(三态)无用信号。传统的分离方法是根据读/写信号振幅的不同进行区分,但当它们振幅的差别不大时,这种方法就难以实现好的效果,再有就是采用混合信号示波器进行区分,这种方法对于DDR/DDR1的测试还可以,但面对DDR2时就显得力不从心了。此次安捷伦推出的专门针对DDR2的N5413A测试软件,采用了其InfiniiumScan(信号行为跟踪)专利技术,可以更好地满足DDR2测试当中读/写信号分离的要求。目前,