千分尺内校指导书.doc

--------------------------校验:_____________-----------------------日期:_____________千分尺内校指导书千分尺内校指导书1、目的:为确保本公司千分尺的内校作业有所遵循,特制定本标准。2、适用范围:凡本公司所使用的千分尺均适用。3、校正标准件:标准块规(-100mm)组,平行平晶,平面平晶。4、温湿度要求:湿度不超过70%RH。检定千分尺的室内温度和被检千分尺在室内平衡温度的时间均应符合表1的规定。表1室内温度及被检千分尺在室内平衡温度的时间受检千分尺名称受检千分尺测量范围(mm)室内温度对20℃的允许偏差(℃)平衡温度的时间(h)千分尺校对用的量杆外径、板厚、壁厚~100±5±32>100~500±4±23数显~100±3±13>100~200±2±14>200~500±1±155、通用技术要求:千分尺及其校对用的量杆不应有碰伤、锈蚀、带磁或其他缺陷,标尺刻线应清晰、均匀,数显外径千分尺数字显示应清晰、完整。千分尺应附有调整零位的工具,测量上限大于或等于25mm的千分尺应附有校对用的量杆。千分尺应具有测力装置、隔热装置和锁紧装置。校对量杆应有隔热装置。千分尺上应标有分度值、测量范围、制造厂名(或厂标)及出厂编号。4后续检定和使用中检验的千分尺及其校对用的量杆不应有影响使用准确度的外观缺陷。微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳无卡滞现象。可调或可换测砧的调整或装卸应顺畅,作用要可靠,调零和锁紧装置的作用应切实有效带有表盘的千分尺,表针移动应灵活、无卡滞现象。数显外径千分尺各工作按钮应灵活可靠。。测砧与测微螺杆测量面的相对偏移应不超过表2规定。表2测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量(mm)测量范围上限偏移量测量范围上限偏移量2517550200,22575250,275,300100325,350,375125400,450150475,500数显外径千分尺的示值重复相应不大于1μm。在任意位置时的数值漂移应不大于1μm/h。(下页)规定。壁厚千分尺、板厚千分尺示值的最大允许误差应不超过±8μm。数显外径千分尺示值的最大允许误差应不超过表4(下页)规定。对于测量上限大于150mm的千分尺可只检测微头示值误差,微测头各点相对于零件的示值最大允许误差不超过±3μm。。数显千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量应不超过表6规定。。表3外径千分尺示值的最大允许误差及量测量面的平行度测量范围(mm)最大允许误差(μm)两测量面的平行度(μm)0~25,25~50±4250~75,75~100±53100~125,125~150±64150~175,175~200±75200~225,225~250±86250~275,275~300±97300~325,325~350±109350~375,375~400±11400~425,425~450±1211450~475,475~500±13表4数显外径千分尺示值的最大允许误差及两测量面平行度测量范围(mm)最