消除红外光谱干涉条纹的简便方法.pdf

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消除红外光谱干涉条纹的简便方法①光谱实验室袁润权刘志航②余素华引言式中:!H肷涔獠ǔげ帷!8缮婕妒52ǔ的整数倍时,相干光强极大;当研为陌中矗——膜的厚度;挖——膜的折射率;!9庀咴谀つ诘那憬。~束数倍时,相干光强极小。红外光谱图纵坐标表示光强变化,横坐标表示波长ㄊ变化。随着波长第卷,第光是一种电磁波。我们通常观察到的光都是光源内大量分子或原子振动辐射出来的结果,而观察不到其作为一种波动在传播过程中所能表现出来的特征——干涉、衍射和偏振等现象。这是因为实现光的干涉是需要条件的,即只有频率相同、相位差恒定、振动方向一致的两列光波才是相干光波,这样的两列波辐射到同一点上,彼此叠加,产生稳定的干涉抵消涤或者干涉加强攘绞饽芗虻ハ嗉痈康墓獍图像,才是我们观察到的光的干涉现象口’。一定厚度的平行平面薄膜可以满足光干涉的这些条件。如图光肷涞狡浔砻嫔希肷涔馊肷涞缴媳砻婧蠓治7瓷涔馐和折射光束,折射光束在下表面反射的同时,还有一部分能量透射出去,形成光束5贝酉卤砻娣瓷浠乩吹墓再次透过上表面形成光束耐保不褂幸徊糠帜芰糠瓷浠厝ィ腹卤砻嫘纬晒馐’。透射光束南辔徊钗#由此可见,透射光束’振动频率相同,振动方向一致,相位差恒定,因而可形成干涉光。由上述平行平面样品透射光干涉原理可知,透射光束’的光程差为月转一定角度,消除干涉条纹对光谱谱图质量的影响。该方法简单,不需重新制样。并讨论了干涉条纹峰一峰艿一羇痑×/,要红外光谱中干涉条纹与样品吸收峰叠加,严重影响光谱定性、定量分析。本文通过将样品偏纫还间距与倾角大小的关系。关键词干涉条纹;谱图质量;倾角文献标识码:摘中图分类号:.文章编号:———图干涔飧缮示意图甘卸ń裼邢薰舅始嗖庹竟愣《甘卸ǔ钦链逵B号△一銩①国家水体污染控制与治理科技重大专项—②:;手机;:,广西省桂林市人,,主要从事水质分析与水处理工艺研究工作。#琽“,琋收稿日期:;接受日期:.
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实验部分结果与讨论仪器初始化完成后,将样品用薄膜支架固定置于样品室的光路中,通过旋转薄膜支架来改变样蟹段冢晒鄄斓角逦母缮嫣跷啤段诘母缮嫣跷葡В氡曜计淄如图匹配度更好。改变,在光谱图上便出现光强极大极小交替变化的干涉条纹。而干涉条纹与样品峰叠加,则严重影响光谱质量∞1疚耐ü叫衅矫嫜沸R欢ń嵌龋谋溲非憬牵佣谋浜焱夤獾娜肷浣度,以消除光谱中的干涉条纹。并讨论了干涉条纹峰一峰纫还间距与倾角大小的关系。仪器与测试参数一傅里叶变换红外光谱仪毡镜航蚬。分辨率:ǎ簧璐问槐浼7ǎ篐狦患觳馄鳎弘鶯一丙氨酸硫酸三甘肽;扫描范围:ǎ徊舛ǚ绞剑和腹饴省样品薄膜为市售的包装材料,聚苯乙烯薄膜为随仪器附带的符合标准的薄膜。实验方法品倾角,进而改变入射光角度,进行样品的谱图采集。平行平面薄膜样品的干涉条纹消除以具有平行平面的薄膜为例。设薄膜的法线方向与入射光平行时,样品对入射光的倾角为零度。图G憬橇愣仁保琍∧さ暮焱夤馄淄肌T将样品旋转,使表面法线方向与入射光束间的夹角增大。对入射光而言,入射角增大。在样品反射率一定的条件下,干涉光的强度只与光束入射角度有关。当入射角增大时,透射光的干涉强度减弱,达到一定程度后,光谱图中观察不到干涉条纹。图=薄膜旋转。后,重新测试得到的谱图。由图可见,莲薄膜的红外谱图憬俏A图煌憬窍虏馐缘暮焱馄淄加氡曜计淄嫉亩