材料分析方法总结.doc

X射线:波长很短的电磁波。波长较长的称软 X射线(晶体微观结构分析),较短的称硬 X射线(探伤) X射线谱: X射线的强度与波长的关系曲线。 X射线强度:单位时间内通过单位面积的 X光的能量总和。与能量与数量有关。特征X射线:是具有特定波长的 X射线,也称单色 X射线。连续X射线:是具有连续变化波长的 X射线,也称多色 X射线。荧光X射线:当入射的 X 射线光量子的能量足够大时,可以将原子内层电子击出,被打掉了内层的受激原子将发生外层电子向内层跃迁的过程,同时辐射出波长严格一定的特征 X射线二次特征辐射:利用 X射线激发作用而产生的新的特征谱线 Ka 辐射:电子由 L层向 K层跃迁辐射出的 K系特征谱线相干辐射: X 射线通过物质时在入射电场的作用下,物质原子中的电子将被迫围绕其平衡位置振动,同时向四周辐射出与入射 X射线波长相同的散射 X射线,称之为经典散射。由于散射波与入射波的频率或波长相同,位相差恒定,在同一方向上各散射波符合相干条件,称为相干散射非相干辐射:散射位相与入射波位相之间不存在固定关系,故这种散射是不相干的俄歇电子:原子中一个 K 层电子被激发出以后, L 层的一个电子跃迁入 K层填补空白,剩下的能量不是以辐射原子散射因子: 为评价原子散射本领引入系数 f (f≤ E),称系数 f 为原子散射因子。他是考虑了各个电子散射波的位相差之后原子中所有电子散射波合成的结果结构因子: 定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数,即晶体结构对衍射强度的影响多重性因素: 同一晶面族{ hkl} 中的等同晶面数系统消光:原子在晶体中位置不同或种类不同引起某些方向上衍射线消失的现象非晶体与晶体的区别主要是在与质点的长程是否有序。表征非晶体结构的常数:配位数 n、最近邻电子的平均距离 r、短程有序畴 rs、原子的平均位移。织构是指多晶体中众多已经处于“择优取向---- 多晶体部分晶粒取向规则分布的现象”位置的晶粒协调一致的排列状态。包括丝织构和板织构。织构表征的方法:指数法、极图法、反极图法、三维取向分布函数法。点阵消光与结构消光合称系统消光。分辨率:是指成像物体上能分辨出的两个物点的最小距离明场像:用另外的装置来移动物镜光阑,使得只有未散射的透射电子束通过他,其他衍射的电子束被光阑挡掉,由此得到的图像暗场像:或是只有衍射电子束通过物镜光阑,投射电子束被光阑挡掉,由此得到的图像景深:是指当成像时,像平面不动,在满足成像清晰的前提下,物平面沿轴线前后可移动的距离焦长:焦长是指物点固定不变(物距不变),在保持成像清晰的条件下,像平面沿透镜轴线可移动的距离。像差:由于透镜几何形状和电磁波波长变化对电磁透镜聚焦能力不一样造成的图像差异等厚干涉条纹:在电镜下我们会看到整个楔形晶体是亮暗相间的条纹,这些条纹很像地图上的等高线,每一条纹对应晶体的相等厚度区域所以叫等厚干涉条纹弯曲消光条纹:当样品厚度一定时,衍射束强度随样品内反射面相对布拉格位置偏移矢量 S 变化而呈周期摆动,相应的投射束强度按相反周期摆动,摆动周期为 1/ T,因而在电镜内显示出相应的条纹。衬度:像平面上各像点强度的差别,衬度越高,越清晰。质厚衬度:试样中各处原子种类不同或厚度、密度差异所造成的衬度。相位衬度:有相位差所引起的强度差异。衍射衬度:由满足布拉格衍射条件的程度不同造成的。双束近