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质控相关知识总结.ppt


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质控相关知识总结
质控相关知识总结质控相关知识总结1、实验室误差
2、质控规则的概念,以及常用的质控规则
3、室内质控和室间质控
4、实时质控,天内质控,日间质控
5、Levey Jennings和Westgard两种质控方法的区别
6、质控图:累积和多规则质控图,Westguard 多规则质控图以及twin plot质控图
7、失控处理措施
1、实验室误差
2、质控规则的概念,以及常用的质控规则
3、室内质控和室间质控
4、实时质控,天内质控,日间质控
5、Levey Jennings和Westgard两种质控方法的区别
6、质控图:累积和多规则质控图,Westguard 多规则质控图以及twin plot质控图
7、失控处理措施
实验室误差
实验室误差分为随机误差,系统误差和过失误差
1、系统误差是指一系列测定结果与真值或靶值存在有同一倾向的误差,有明显的规律性,可在一定条件下重复出现,是可以通过质控预防和校正的。
2、 随机误差又称偶然误差,是一种偶然的、未能预料到的误差,是难以避免和校正的误差。检验工作中随机误差的分布符合正态分布规律。
 3、过失误差是人为的责任误差。通过加强实验室管理和开展质量控制工作是可以避免的。
常用的质控规则
一质控规则概述
 质控规则是解释质控数据和作出质控状态判断的决策标准。
质控规则以符号AL表示
A是测定质控标本数或超过质控限(L)的质控测定值的个数,L是质控限。
当质控测定值超过质控规则所规定的质控限时,则判断该分析批违背此规则,视为失控。例如,12s质控规则,其中A为一个质控测定值,L为X±2s,当一个质控测定值超过X±2s时,即判断为失控。
 
二、常用质控规则的符号和定义
 12s(1-2s):一个质控测定值超过X±2s质控限传统上,这是作为Levey-Jennings质控图上的警告限。
 13s(1-3s):一个质控测定值超过X±3s质控限。传统上,这是作为Levey-Jennings质控图上的失控限。
22s(2-2s):两个连续的质控测定值同时超过X-2s 或X+2s质控限。
R4s(R-4s):在同一批内高和低质控测定值之间的差值超过4s
31s(3-1s):三个连续的质控测定值同时超过X-1s 或X+1s
41s(4-1s):四个连续的质控测定值同时超过X-1s 或X+1s
7X(7-X):七个连续的质控测定值落在平均数(X)的同一侧。
 7T(7-T):七个连续的质控测定值呈现出向上或向下的趋势。
8X(8-X):八个连续的质控测定值落在平均数(X)的同一侧。
 9X(9-X):九个连续的质控测定值落在平均数(X)的同一侧。
  10X(10-X):十个连续的质控测定值落在平均数(X)的同一侧。
12X(12-X):十二个连续的质控测定值落在平均数(X)的同一侧。
室内质控和室间质控
质控的概念:
室内质控:就是用一种稳定物质,通过您自己重复检测得到这种物质在您检测系统上的一个检测值。然后通过统计方法建立质控范围。用来监控您室内精密度的质控方法。
室间质控:用一种稳定物质,分发到各个实验室,用各种仪器分别检测该物质,得到一组检测值。用统计方法得到该物质的检测值可接受范围。用来评判您的试验系统是否与其他试验系统结果一致的质控方法。 所以,室内质控是控制一台仪器精密度的方法。也就是 稳不稳。室间质控控制仪器一致性的方法。也就是 准不准。
实时质控,天内质控,天间质控
质控类型分为实时质控,天内质控,天间质控
实时质控:对于一天内连续10个质控数据按照设定的质控规则,进行质控状态的判断
天内质控:对于一天内所有的质控数据按照设定的质控规则,进行质控状态的判断
天间质控:对于不同天内所有的质控数据按照设定的质控规则,进行质控状态的判断
Levey Jennings和Westguard 多规则两种质控方法的区别
Levey-Jennings质控图是最普及、最简单、最常用的方法
  优点:方便易行,其质控规则仅为单独的12s或13s,即仅以一个规则(X±2s或X±3s作为质控限)来判断分析批在控或失控。
  局限性:仅涉及一种质控规则而未同时涉及多个质控规则。相对的简单粗糙,往往不能满足更高的质控要求
如使用具有X±2s质控限的Levey-Jennings质控图,当每批使用2个质控物时,他的假失控概率往往是不可接受的;
如使用具有X±3s质控限的Levey-Jennings质控图,此质控方法虽然具有较低的假失控率,但其误差检出能力则较低,难以确保检验结果的质量。
分析方法:一次超过2SD,作“告警”;连续二次或累积二次超过2SD或一次超过3SD为“

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