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IGBT 的驱动特性及功率计算
陈暹辉
深圳裕能达电气有限公司
摘要:根据目前市场的使用情况,介绍IGBT的驱动特性及不同功率计算.
关键词:开通损耗 关断损耗 栅极电阻 导通压降 短路时间
1  IGBT 的驱动特性
1。1 驱动特性的主要影响因素
 IGBT的驱动条件与IGBT的特性密切相关。设计栅极驱动电路时,应特别注意开通特性、负载短路能力和dv/dt 引起的误触发等问题。 栅极电压 Uge 增加(应注意Uge过高而损坏IGBT),则通态电压下降(Eon 也下降),如图1所示(此处以200 A IGBT为例).由图1中可看出,若Uge 固定不变时,导通电压将随集电极电流增大而增高,如图1 a,电流容量将随结温升高而减少(NPT工艺正温度特性的体现)如图1b所示。
(a)Uge与Uce和Ic的关系 (b)Uge与Ic和Tvj的关系
图1 栅极电压Uge与Uce和Tvj的关系
栅极电压 Uge 直接影响 IGBT 的可靠运行,栅极电压增高时有利于减小IGBT的开通损耗和导通损耗,但同时将使IGBT能承受的短路时间变短(10 μs以下),使续流二极管反向恢复过电压增大,所以务必控制好栅极电压的变化范围,一般Vge可选择在—10~+15 V之间,关断电压—10 V,开通电压+15 V。开关时
Uge与Ig的关系曲线见图2 a和图2 b所示.
栅极电阻Rg 增加,将使IGBT的开通与关断时间增加,使开通与关断能耗均增加,但同时,可以使续流二极管的反恢复过电压减小,同时减少EMI的影响。而门极电阻减少,则又使di/dt增大,可能引发IGBT误导通,但是,当Rg减少时,可
(a)开通时       (b)关断时
图2 开关时Uge 与 Ig的关系曲线
以使得IGBT关断时由du/dt所带来误触发的可能性减小,同时也可以提高IGBT承受短路能量的能力,所以Rg大小各有好坏,客户可根据自己设计特点选择。图3为Rg大小对开关特性的影响,损耗关系请参照图4所示。
图3  Rg大小对开关特性的影响(di/dt 大小不同)
图4  门极电阻Rg与Eon/Eoff
由上述可得:IGBT 的特性随门极驱动条件的变化而变化,就象双极型晶体管的开关特性和安全工作区随基极驱动而变化一样。但是IGBT 所有特性难以同时最佳化
,根据不同应用,在参数设定时进行评估,找到最佳折冲点。 
双极型晶体管的开关特性随基极驱动条件而变化,然而,对于 IGBT来说,正如图1~图3所示,门极驱动条件仅对其开关特性有较大影响,因此,对于其导通特性来讲,我们应将更多的注意力放在IGBT的开通、短路负载容量上.
1。2  驱动电路设计与结构布局
l)从结构原理上讲,IGBT的开通特性同MOSFET,而输出特性同BJT,等效于MOSFET+BJT,因此 IGBT与 MOSFET都是电压驱动,都具有一个阈值电压,有一个容性输入阻抗,因此IGBT对栅极电荷非常敏感故驱动电路必须很可靠,要保证有一条低阻抗值的放电回路,即驱动电路与 IGBT的连线要尽量短。
2)用内阻小的驱动源对栅极电容充放电,以保证栅极控制电压 Uge, 有足够陡的前后沿,使 IGBT 的开关损耗尽量小。另外

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  • 上传人sanshenglu2
  • 文件大小398 KB
  • 时间2021-01-22