霍尔效应法测量磁场.doc

霍尔效应测磁场霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应。 187 9 年美国霍普金斯大学研究生霍尔在研究金属导电机理时发现了这种电磁现象, 故称霍尔效应。后来曾有人利用霍尔效应制成测量磁场的磁传感器, 但因金属的霍尔效应太弱而未能得到实际应用。随着半导体材料和制造工艺的发展,人们又利用半导体材料制成霍尔元件,由于它的霍尔效应显著而得到实用和发展, 现在广泛用于非电量的测量、电动控制、电磁测量和计算装置方面。在电流体中的霍尔效应也是目前在研究中的“磁流体发电”的理论基础。近年来, 霍尔效应实验不断有新发现。 1980 年原西德物理学家冯· 克利青研究二维电子气系统的输运特性, 在低温和强磁场下发现了量子霍尔效应,这是凝聚态物理领域最重要的发现之一。目前对量子霍尔效应正在进行深入研究,并取得了重要应用,例如用于确定电阻的自然基准,可以极为精确地测量光谱精细结构常数等。在磁场、磁路等磁现象的研究和应用中,霍尔效应及其元件是不可缺少的,利用它观测磁场直观、干扰小、灵敏度高、效果明显。【实验目的】 1 .霍尔效应原理及霍尔元件有关参数的含义和作用 2 .测绘霍尔元件的 V H— Is ,了解霍尔电势差 V H 与霍尔元件工作电流 Is 、磁感应强度 B 之间的关系。 3 .学习利用霍尔效应测量磁感应强度 B 及磁场分布。 4 .学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。【实验原理】霍尔效应从本质上讲, 是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。当带电粒子( 电子或空穴) 被约束在固体材料中, 这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积, 从而形成附加的横向电场。如图 13-1 所示,磁场 B 位于 Z 的正向,与之垂直的半导体薄片上沿 X 正向通以电流 Is(称为工作电流), 假设载流子为电子(N 型半导体材料) ,它沿着与电流 Is 相反的 X 负向运动。由于洛仑兹力 f L 作用,电子即向图中虚线箭头所指的位于 y 轴负方向的 B 侧偏转,并使 B 侧形成电子积累, 而相对的A 侧形成正电荷积累。与此同时运动的电子还受到由于两种积累的异种电荷形成的反向电场力 f E 的作用。随着电荷积累的增加, f E 增大,当两力大小相等(方向相反)时, f L=-f E ,则电子积累便达到动态平衡。这时在 A、B 两端面之间建立的电场称为霍尔电场 E H ,相应的电势差称为霍尔电势 V H。设电子按均一速度 v ,向图示的 X 负方向运动,在磁场 B 作用下,所受洛仑兹力为: L f e B ?? v 式中: e 为电子电量, v 为电子的漂移平均速度, B 为磁场的磁感应强度。同时,电场作用于电子所受电场力为: H E H eV f eE l ?? ??式中: E H 为霍尔电场强度, V H 为霍尔电势, l 为霍尔元件宽度当达到动态平衡时: L E f f ?? HVBl ?v ( 13-1 ) 设霍尔元件宽度为 l ,厚度为 d ,载流子浓度为 n ,则霍尔元件的工作电流为 s I ne ld ?v ( 13-2 ) 由( 13-1 )、( 13-2 )两式可得: 1 s s H H