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能量色散X射线荧光光谱仪校准方法.doc


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文档列表 文档介绍
能量色散X射线荧光光谱仪校准方法
1 范围
  本规范适用于新生产、使用中和修理后的能量色散X射线荧光光谱仪的校准。
2 引用文献
  JJG 810-93 波长色散X射线荧光光谱仪检定规程
3 术语和计量单位
分辨力
检测器的分辨力以脉冲高度分布的半峰宽(eV)来表示,简写为R。

信噪比以镉元素Kα线脉冲高度与噪声的比值(S/N)来表示。其中,S是镉元素的X射线荧光强度,N是背景值。
4 概述
   能量色散X射线荧光光谱仪用于固体、粉末或液体物质的元素分析。工作的基本原理是X射线管发出的初级X射线激发试样中的原子,测定由此产生的X射线的荧光的能量强度,根据各种元素特征X荧光光谱线的能量强度进行元素的定性和定量分析。
5 计量性能要求

、制造厂、出厂日期和编号的标志。
、动作正常。
、指示灯和安全保护装置工作正常。
技术性能
技术性能包括仪器分辨力、信噪比、仪器的计数线性、重复性、稳定性。
:镉元素Kα线脉冲高度的半峰宽应优于260eV。
:S/N应大于2。
:90%%。
:%
:%
6 校准条件

:(15-30)℃
:≤80%,或按仪器说明书规定。
:电压AC(220±22)V或(380±38)V,频率(50±1)Hz。
,无强气流及酸、碱等腐蚀性气体。


校准设备

(GBW(E)080383)
7 校准项目和校准方法
  检测器分辨力的测定
     校准条件:160mg/L镉元素标准溶液,X射线源电压:50 kV,调节电流为100µA,滤光片:Zr,真空光路。
检测器的分辨力以镉元素脉冲高度分布的半峰宽(eV)来表示。
  信噪比的测定
校准条件:160mg/L镉元素标准溶液,X射线源电压:50 kV,调节电流为100µA,滤光片:Zr,真空光路。
信噪比以镉元素脉冲高度与背景噪声的比值(S/N)来表示。其中,S是镉元素的X射线荧光强度,N是背景值。
  仪器计数线性的测定
用纯铜或黄铜块样品测量CuKa线。X射线源的电压设置在40 kV或50 kV,电流分别为50、100、200、300、400、500µA,无滤光片,空气光路,依次测量CuKa的计数率,每个电流值的计数率测量3次,取平均值。以下式计算90%仪器规定最大线性计数率时的计数率偏差CD:
              
式中    ―――――由线性直线给出的计数率值,在此为90%仪器规定最大线性计数率;
    ―――――-由实测工作曲线给出的计数率值。
  注:测量时,X射线管的使用功率不超出额定功率。
  重复性的测定:
校准条件:纯铜或黄铜块样品,测量CuKa的计数率,无滤光片,X射线源电压设置在40kV或50kV,调节电流300µA,空气光路。
重复性以11次连续重复测量的相对标准偏差RSD表示,每次测量都必须改变样品放置位置等。
式中,Ii---------i次测量的计数率;
      -----------11次测量的计数率的平均值。
  稳定性的测定
仪器开机稳定后,测定条件:纯铜或黄铜块样品,测量CuKa的计数率,无滤光片,X射线源电压设置在40kV或50kV,调节电流300µA,空气光路,在不少于2h内,间隔15min以上,重复7次测量,计算7次测量值的相对标准偏差(RSD)为稳定性。
              
式中,Ii---------i次测量的计数率;
        -----------7次测量的计数率的平均值。
8 校准结果
   ~。
9 复校的时间间隔
   建议每年校准一次,更换重要部件或对仪器性能有怀疑时,应随时校准。
序号 标准编号 标准名称
1  JJG石油 05-2000   井温仪检定规程 
2  JJG 412-86   水流型气体热量计 
3  JJG 742-91   恩氏粘度计 
4  J

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