TFT-LCDTouchMura不良的研究和改善.docx

TFT-LCDTouchMura不良的研究和改善
 
   
 
 
 
 
 
 
 
     
 
 
 
 
 
摘要：Touch Mura在整个TFT-LCD制作流程中非常容易发生，并且严重影响产品性能。文章主要研究了液晶量、Sub PS设计、PS段差设计及工艺参数Total pitch对Touch Mura的影响。实验结果表明液品量的增加能够补偿敲击偏移，减轻 Touch Mura 不良;Sub PS的Z字形设计由于阻挡效应能够有效减轻 Touch Mura;Main PS和Sub PS的段差越大，Touch Mura margin越小;工艺参数Total Pitch 越接近设计值，Touch Mura 风险越小。所以在设计过程中优化液晶量和Main-Sub PS段差设计及 Sub PS设计能够有效减低Touch Mura 风险，此外，生产过程中对工艺参数 Total pitch的管控也至关重要。
关键词：Touch Mura；液晶量；柱状隔垫物；Total Pitch；
一、概述
产生Touch Mura的原因有很多，与液晶盒的结构设计、制造工艺等都有关系。一般认为Touch Mura是因为液晶面板拍击后BM无法正常遮挡侧漏光线所致，其根本原因是拍击造成面板上下两层玻璃基板的位错，致使Color Filter层的BM无法正常遮挡漏光。因为玻璃基板具有一定弹性，所以拍击造成的位错能在拍击力消失后很快得到一定程度的回复，但通常回复不完全。所以，通常增加 BM宽度可以有效降低Touch Mura 严重程度。但是该方法又会带来减小开口率的问题。因此，对Touch Mura现象更深入详尽的研究非常重要。本文在不改变液晶盒设计结构的情况下，着重从液晶量的角度进行研究。通过制备不同液晶灌装量的液晶面板，测试其拍击位移量和Touch Mura严重程度，找到相关性，并讨论了液晶量对Touch Mura的影响。
二、实验
Mura的影响
首先，以47cm（）为例，选取了不同的液晶量进行测试，，定为0%，分别增加和减少每滴液晶量的1%和2%，如表1所示。所有液晶面板其他生产工艺均相同，然后对此批样品进行 Touch Mura 程度判定。
Total pitch 对Touch Mura的影响
采用1850mm×1500mm 的玻璃基板，对于47cm（）产品来说可以切割 24张面板（Panel），从玻璃的倒角位置用字母开始命名Panel。其中篮框为Total pitch设计值，红框为Total pitch 实际值。选用47nm （ in）产品，TFTD panel Total pitch 实际值右侧左偏玻璃3张，CF A panelTotal Pitch 实际值左侧右偏玻璃3张，假设其他Panel基本未偏移，Total Pitch 如图所示。
在保证对盒精度和其他设计及工艺条件一致的前提下，制作成模组产品进行 Touch Mura 判定。为了得到更详细、更准确的数据，根据不良的漏光面积和亮度程度，将 touch Mura按照6个水平进行区分，L0为最轻微等级，无漏光发生，中间L1、L2