通信光缆维护要点.docx

光缆线路的维护与施工
本文介绍了光缆线路大衰耗点产生的原因及处理方法、线路维护测试方法及光缆线 路施工接续标准化作业流程。本章还简单的介绍了光缆的组成结构、命名方法及光 纤的标准色谱排列顺序。
第一节光缆线路大衰耗点产生的原因及处理方法
在光缆线路的施工中，光缆线路的衰耗指标是一项重要的考核指标，不但要 考核施工完毕的光缆线路的光纤平均损耗系数，还要考核光缆线路光纤散射曲 线，光缆线路的平均损耗系数和总损耗不但要符合设计要求， 还要符合施工规范
和验收标准的指标要求，而且要求光纤散射曲线比较均匀，曲线上不应出现较大 的衰耗台阶，以保证光缆线路的光特性技术指标符合施工规范和验收标准的要 求。
一、光缆大衰耗点产生的几种现象和原因
敷设时产生的大衰耗点
在光缆施工中，由于光缆敷设长度一般在2〜3 KM直埋敷设时，穿越的障
碍物较多，在施工中，敷设人员较多，敷设距离较远，难以保证所有敷设人员协 调行动，特别是通过障碍物较多时，如：穿 越防护钢管，拐弯、上下坡等，从
而出现俗称的光缆打背扣（出现死弯）现象，对光缆造成严重伤害，一旦发生死 弯现象，此处必然会出现一个大衰耗点，严重的会发生部分或全部光纤断裂现象， 这是光缆 施工中容易出现的故障现象。止匕外，在敷设光缆时，光缆端头的光缆 最容易受到损伤，在接续时，往往在接续点处显示有较大衰耗值，此时，即使多 次重复熔接，也不能降低接续损耗值，从而形成一个较大的衰耗点。
接续过程中产生的大衰耗点
在光缆接续过程中，产生大衰耗点是经常发生的，我们一般用 OTDR光时
域反射仪）进行监测，即每熔接一根光纤，都用OTDRW试一下熔接点的衰耗值， 具体测试时，采用双向监测法，由于光纤制造过程中存在的差异性， 两根光纤不 可能完全一致，总是存在模场直径不一致现象，从而导致了用 OTDRT测的损耗
值并不是接续点的实际损耗值，其数值有正有负，一般用双向测试值的算术平均 值作为实际衰耗值。在接续时，一般用实时监测法，基本能保证熔接损耗达到控 制目标，但经常产生大损耗点的原因是在熔接完毕后进行光纤收容时， 部分光纤
受压或弯曲半径过小，即形成一个大衰耗点。因为 1550nm波长的光纤对微弯损
耗非常敏感，光纤一旦受压，即产生一个微弯点，或盘纤时，弯曲半径过小，光 纤信号在此处也产生较大的衰耗，表现在光纤后向散射曲线上，就形成了一个较 大的衰耗台阶；另外，一个比较容易忽视的原因是光缆接头盒组装完成后， 固定 接头盒和固定光缆时，由于光缆在接头盒内固定的不是很牢固，造成光缆拧转， 使光纤束管变形，由于光纤受压，造成光纤衰耗值急剧增加，形成衰耗台阶。
运输和装卸造成的大衰耗点
在光缆运输到施工现场时，由于现场环境比较恶劣，特别是敷设铁路通信光 缆时，吊车往往无法到达施工现场，此时，常常是通过人力装卸光缆，在光缆卸 下的过程中，外层光缆经常受到损伤，原因是光缆盘直径过小，导致外层光缆离 地面距离过近，由于现场地面土质软硬不一，崎岖不平，在滚动光缆盘的过程中， 光缆盘陷入地面，导致外层光 缆被地面硬物格坏，主要原因是部分厂家为降低 生 产成本，采用较小的光缆盘。止匕外，光缆盘未用木板进行包封（有些是铁架 光缆盘，无法用木板进行包封），而仅用塑料布在光缆外层进行包裹，或者是单 盘测试后，光缆盘包封未恢复，起不到应有的防护作用，当光缆外层被石头等硬 物格伤后，光纤在束管中受压，即产生一个衰耗台阶，表现在光纤后向散射曲线 上，就形成一个较大的衰耗点。
成端过程中产生的大衰耗点
在光缆成端过程中，也经常会产生大衰耗点。在成端时，由于一般不进行熔 接损耗监测，仅凭经验操作，因此，产生大衰耗点的几率也大增。止匕外，在光纤 熔接后安装收容盘时，往往造成收容盘附近 的光纤束管弯曲半径过小或造成光 纤束管拧转变形，使光纤在此处产生一个较大的衰耗点， 此类大衰耗点一般比较 隐蔽，不像线路中间的大衰耗点用 OTDRT以直接测出。 二、光缆大衰耗点的查找定位和处理
一般产生大衰耗点的位置
光缆接续完成后，我们一般要对整个中继段用 OTDRS行测试，通过测试， 可以检验接续完的光缆中继段的光特性是否符合施工规范和验收标准的要求， 主
要从以下几个方面进行考核：中继段全程 总衰耗是否小于设计规定（也就是平 均衰耗系数是否小于设计规定值）；中继段接头双向平均衰耗值是否小于验收标 准和设计要求；中继段后向散射曲线是否斜率均匀，曲线平滑，除正常的接头衰 耗点的小台阶外，曲线上应无大衰耗台阶。利用 OTDRS行光中继段测试和人衰 耗点定位时，首先应正确地设置仪表的测试参数，诸如测试量程、测试波长、脉 冲宽度、折射率和平均化处理时间等。对测试量程的设定，一般根据中继段长度， 选择合适的量程，使整个中继段曲线