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量块的检定
第一页，本课件共有59页
本节主要内容
一、量块简介：概述、基本特性、作用
二、量块的精度等级
量块精度分等、分级的依据、使用特点， 等与级’的关系
三、量块的检定
1、概述：必要性、检定项目及设备
2、量块长度的相对的另一个测量面之间的垂直距离。通常，测量此垂直距离的方法有:
；
2. 绝对测量法:光波干涉
1、相对测量法：主要用于测量二等以下的量块　
【基本原理】 相对测量法是将被测量块与精度等级比它高一等（ 或高一等以上）标准量块放在相应精度的仪器上进行比较，以求得被测量块的长度。
如： ，量块组合使用 。
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投影立式光学计
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被测量块在20℃时对其标称长度的偏差为L
L =LDs＋Lr-LC2
式中：
LDs—为标准量块（或仪器所配备其它长度标准器）在标准状
态下，对其标称长度的偏差 ;
Lr—在测量状态下，由比较仪测得被测量块与标准量块（或
仪器所配备其它长度标准器）长度的差值;
LC2—长度测量时由于被测量块和标准量块（或仪器所配备其
它长度标准器）温度偏离标准状态所应引入的修正量。

被测量块的长度L为: L = L0 +L
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【常见测量仪器】实现这种测量的仪器有
立式接触式干涉仪；
m投影光学计；
数字式立式光学计；
测长机；
电容和电感测微仪。
　　这些仪器的分辨率应优于相应标称长度相
关等别量块长度测量不确定度极限允许值的20%。
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量块检定仪器
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投影立式光学计
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测　长　机
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【立式接触式干涉仪】
测量原理：
是根据光波干涉原理，将微小尺寸的变化转换为干涉条纹的移动，读出干涉条纹的移动数，从而达到测量微小尺寸变化的目的。
仪器光路 ：
如图2-2，实质即迈氏干涉仪
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+
A
A
x
m
问题２：如何判断移动后的Ａ的位置？
问题１：x与m的关系
问题３：原理如何仪器化？
如图2-2 立式接触式干涉仪光学系统
问题４:位移量x能否直接读出？
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仪器的定度：调整并规定分划板上刻度尺的刻度值。
原理：通过调节参考反射镜相对测量镜的夹角，改变干涉条纹的间距，从而获得需要的仪器刻度值。
光源：有确定波长的单色光。
方法：插入滤光片，首先调整条纹的宽度，使 m个条纹间隔刚好和刻度尺上 n个刻线间隔相重迭（如图2-3）。n与m满足下列等式
n i = ( mλ) / 2
　 或
n =（m / i ）( λ/ 2)
　 其中：i — 仪器刻度值。
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表 : 仪器刻度值推荐表
被检量块等别
2、3
4、5
6
刻度值 i / m



干涉条纹间隔数
8
16
32
图 干涉条纹间隔的宽度与刻度间隔的关系
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仪器的主要调整和测量
调整：①干涉条纹宽度(定度）；
②干涉条纹方向与标尺刻线的平行；
③干涉条纹移动方向与测杆移动方向一致。
测量：光源为白光，零级黑纹为指标线，对量块中心点和四个角的长度进行测量。
图2-4 量块尺寸测量过程
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数据处理
被测量块对标准量块中心长度差L为
　　 L =〔(02＋02)/2-(01＋01)/2 〕i×10ˉ³
则被测量块中心长度L按式下式进行计算得到。
L = L0 + L

式中：L0 — 标准量块在20℃时的中心长度，可在检定
书中查到;
任意一点的长度差：
L =〔(ai＋ai )/2-(O1＋01)/2〕
长度变动量：