电子元器件检验规范标准书.doc

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电子元器件检验规标准书
修订
日期
且未露出基质, 可承受；否则不可承受；
Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可承受；
目检
10倍以上的放大镜
检验时，必须佩带静电带。
电性检验
MA
元件实际测量值超出偏差围.
LCR测试仪
数字万用表
检验时，必须佩带静电带。
二极管类型
检 测 方 法
LED
选择数字万用表的二极管档，正向测量，LED需发出与要求相符的颜色的光，而反向测量不发光；否则该二极
管不合格。
注：有标记的一端为负极。
其它二极管
选择数字万用表的二极管档，正向测量，读数需小于1，而反向测量读数需无穷大；否则该二极管不合格。
注：有颜色标记的一端为负极。
备注
抽样方案说明：对于CHIP二极管，执行抽样方案时来料数量以盘为单位，样本数也以盘为单位；从抽检的每
盘中取3~5pcs元件进展检测；AQL不变。检验方法见＂LCR数字电桥测试仪操作指引＂和＂
数字万用表操作指引＂。
〔四〕 插件用电解电容.
1. 目的
作为IQC人员检验插件用电解电容类物料之依据。
2. 适用围
适用于本公司所有插件用电解电容之检验。
3. 抽样方案
依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样方案；具体抽样方式请参考"抽样方案"。
4. 允收水准〔AQL〕
严重缺点(CR): 0;
主要缺点(MA): ;
次要缺点(MI): .
5. 参考文件
"LCR数字电桥操作指引"、
"数字电容表操作指引"。
检验工程
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否
都正确,任何有误,均不可承受。
目检
数量检验
MA
实际包装数量与Label上的数量是否一样,假设不同不可承受；
实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,假设不吻合不可接
受。
目检
点数
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外观检验
MA
a. 极性等标记符号印刷不清，难以识别不可承受；
b. 电解电容之热缩套管破损、脱落，不可承受；
c. 本体变形，破损等不可承受；
，均不可承受。
目检
可焊性检验
MA
，或完全不上锡不可承受。(将PIN沾上现使 用之合格的松香水，再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡；如果不是则拒收)
实际操作
每LOT取5~10PCS在 小锡炉上验 证上锡性
尺寸规格检验
MA
a. 外形尺寸不符合规格要求不