IC内置熔丝熔断方法.doc

电源招聘专家 IC 内置熔丝熔断方法 1 引言某些计量电路为了防止工艺上电阻温度- 阶温度因子的偏差,采用了熔丝结构以得到更精确的基准。在圆片测试时, 可以根据电路实际基准点在一定范围内进行调整, 使出厂电路的基准更加精确, 一致性更好。可配置性也是半导体发展的一个方向。对于可编程电路, 可根据市场的需求烧熔丝编程,使电路具有更强的适应性, 而且熔丝是一次性编程, 具有更强的安全性。一个优秀的测试程序应当有明显的模块化, 简明有效、逻辑性强。这样的程序便于他人阅读理解和相互交流,也有利于调试过程中的修改调整。 2 熔丝熔断的硬件设计 硬件设计原理熔丝是集成电路生产中所使用的一项重要技术。熔丝的结构如图 1 。熔丝可以用金属( 铝、铜等) 或硅制成。熔断熔丝需要较大的瞬间电流。具体所需电流, 根据实际条宽和厚度而不尽相同,一般通常是几百毫安。如此大的电流对测试仪的 PE 板很容易造成损伤,况且并不是所有测试仪的 PE 板都具备这样的电流驱动能力。为了能提供足够大的瞬问电流,又保护 PE 卡不受损,我们设计的硬件方案使熔丝引线不接入测试仪的通道, 而通过电容放电来提供熔断熔丝所需的瞬间大电流。电容的充电、放电由继电器来控制,而续电器的开启、闭合由测试仪通道( 所选择通道由用户根据需要任意定义) 提供电压来控制。原理图如图 2 。电源招聘专家在通常情况下, CH33 和 CH34 默认值为 。继电器 RELAY1 和 RELAY2 不工作。此时电容 C1、 C2 接在 VCC 上进行充电。当将 CH33 设定为 时,继电器 RELAY1 工作, 电容 C1与 VCC 脱开,转而跨接在熔丝 FUSE1 两端, 电容 C1 放电,熔断熔丝 FUSE1 。而 C2 仍在充电。同样, 如果将 CH34 设定为 时,将熔断熔丝 FUSE2 。 硬件设计的优点可以看出该设计具有如下优点: (1) 熔断熔丝时的大电流由电容产生,直接施加至熔丝两端。由于避丌了测试仪,所以电流不受测试仪额定电流的限制,不会对测试仪造成不良伤害。(2) 在特定时刻对特定电路进行测试时,该电路只可能是某一状态,也就是说只是执行众多熔丝方案中特定的一种。所以在特定时刻, 各根熔丝只是选择熔断或保持两者之一, 即相对应的电容最多只进行一次放电。由于在默认状态或者在执行其他参数测试或功能测试时,所有熔丝所对应的电容都处于充电状态, 所以各个电容有足够的电量产生所需的大电流。同时硬件设计中采用一根熔丝对应一个继电器、一个电容, 既可准确操作, 相互之间又不会有任何影响。(3) 硬件设计中用继电器来选择电容是接在电源上充电或是跨接在熔丝两端放电。继电器的选通由相应的测试通道来控制。由于测试通道的状态可以在主程序中设定, 又可以在测试矢量中进行驱动。所以该设计可以实现与参数测试或功能测试的相互兼容并友好交换。 3 熔丝调整基准 熔丝方案简介表1 所示是某电路的熔丝调节方案。其中 Tosc 表示所测振荡方波周期。“0”表示 Oa-Ob 间的熔丝不熔断,“1”表示 Oa-Ob 间的熔丝熔断。 Tosc 超出表 1 第一列所示范围则判为无效。调节精度为 μs/( 一个最小调节单位)。电源招聘专家 传统方法在对芯片进行测试时,根据实际测得的频