LOGOX线头影测量分析Cephalometrics pany Logo简介? 1934年Hofrath and Broadbent 提出?pany Logo通过测量X 线头颅定位照相所得的影像,对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构,使对牙颌、颅面的检查诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去,:简言之:通过对通过对XX片进行分析、测量,从而了解片进行分析、测量,从而了解牙颌、颅面骨骼及软组织发育状况及相牙颌、颅面骨骼及软组织发育状况及相互关系互关系。。Company Logo一、主要应用?研究颅面生长发育?牙颌、颅面畸形的诊断分析?确定错牙合畸形的矫治计划?研究矫治中,矫治后的变化?外科正畸的诊断和矫治设计?pany ?不同个体同一年龄段—横向研究颅面发育?同一个体各年龄段---纵向研究颅面发育明确了颅面生长发育机制,快速生长期的年龄、及对颅面生长发育的预测。---“颅面生长发育”pany 、pany ,pany 、颅面的变化治疗前正畸治疗治疗中,pany ?通过X线对颅面畸形患者进行分析?得出畸形的机制?确定手术部位、pany Logo局限性?标记点的定位都是相对?标记时存在个体差异?存在种族、性别的差异
x线头影测量分析 来自淘豆网m.daumloan.com转载请标明出处.
