电子元器件检验规范标准书.docx

部分电子元器件检验规范标准书
（一）IC类检验规范

作为IQC人员检验IC类物料之依据。

适用于本公司所有IC之检验。

依MIL-STD-105E,LEVELI正常单次抽样计划；具体抽样方及实物是否
都正确，任何有误，均不可接受。
目检
数量检验
MA
，若不同不可接受；，若不吻合不可接受。
目检
点数
外观检验
MA
，难以辨认不可接受；、脱落，不可接受；，破损等不可接受；生锈氧化，均不可接受。
目检
可焊性检验
MA
上锡不良，或完全不上锡不可接受。（将PIN沾上现使用之合
格的松香水，再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡；如果不是则拒收）
实际操作
每LOT取
5~10PC庭
小锡炉上验证上锡性
尺寸规格检验
MA
。
卡尺
若用于新的
Model,需在
PCB上对应的位置进行试插
电性检验
MA
。
用数字电容表或LCR数字电桥测试仪量测
（四）晶体类检验规范

作为IQC人员检验晶体类物料之依据。

适用于本公司所用晶体之检验。

依MIL-STD-105ELEVELI正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。

（AQL）
严重缺点（CR）:0;
主要缺点（MA）:;
次要缺点（MI）:.

《数字频率计操作指引》
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA

正确，任何有误，均不可接受。
目检
数量检验
MA
，若不同不可接受；，若不吻合不可接受。
目检
点数
外观检验
MA
，难以辨认不可接受；
，不可接受；
，或受损露出本体等不可接受；
、上锡不良，或断Pin,均不可接受。
目检
每LOT取
5~10PC舔小
锡炉上验证上锡性
电性检验
MA
；
。
测试工位
和数字频率计
电性检测方法
晶体
检测方法
在好的样板的相应位置插上待测晶体，再接通电源开机；在正常开机后，用调试好的数字频率计测量晶体，看
测量的频率是否在规格范围内，若不能开机或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。
在好的样板的相应位置插上待测晶体、CPU内存条等，再接通电源开机，看能否正常开机显示；在正常开机
显示后，用调试好的数字频率计测量晶体，看测量的频率是否在规格范围内，若不能开机显示或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。
（五）三极管检验规范

作为IQC人员检验三极管类物料之依据。