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实验七移位寄存器及其应用
一、实验目的
掌握中规模4位双向移位寄存器逻辑功能及使用方法。
熟悉移位寄存器的应用一一环形计数器。
二、实验原理
移位寄存器是一个具有移位功能的寄存器，是指寄存器中所存的代码能够在移位脉 冲的作用下依次入两个移位寄存器中的数已 被全部移出，且A、B两个数相加的和及最后的进位也被全部存入累加和移位寄存器中。
若需要继续累加，则加数移位寄存器中需再一次存入新的加数。
中规模集成移位寄存器，其位数往往以4位居多，当需要的位数多于4位时，可把几块 移位寄存器用级联的方法来扩展位数。
三、实验设备及器件1、数字电路实捡箱
1、数字电路实捡箱
1、数字电路实捡箱
2、双踪示波器
3、万用表
4、74LS194 (CC40194) XI四、实验内容
测试74U194 （或CC40194）的逻辑功能
按图4接线，即CR、S|、S。、s^、Sr、D］、D?、D］、Do分别接至逻辑开关的输出插口； Q3、Q?、Qn Qo接至LED逻辑电平显示输入插口。CP端接（正或负）单次脉 冲源输出插口。按表9-9-2所规定的输入状态，逐项进行测试。
+ 5V逻II电平
接LED
74LS 194接逻辑开关输出插口图4 741S194逻辑功能测试
氓如Ds以Di D
0 土海
/
1
2|3
4
5
—V
6
7±8
⑴ 消除：令CR=0,其它输入均为任意态，这时寄存器输出Q3、Q2、Qr Qo均为0。清除后，置CR=\0
⑵ 送数：令CR =S. =S0 =1,送入任意4位二进制数，如D^D, D］ D° =abcd,加
CP脉冲，观察CP=O、CP由OF、CP由一0三种情况下寄存器输出状态的变化，观 察寄存器输出状态变化是否发生在CP脉冲的上升沿。
右移：清零后，令CT=l,S1=O,So=l,由右移输入端Sr送入二进制数码如0100, 由CP端连续加4个脉冲，观察输出情况，记录之。
左移：先清零或预置，再令林=1, S,=l, S°=0,由左移输入S,,送入二进制数 码如mi,连续加四个CP脉冲，观察输出端情况，记录之
表2
清除
模式
时钟
串行
t人
轴出
功能兑结
Si
So
CP
Sl
Sr
0
X
X
X
X
X
X X X X
1
1
1
f
X
X
abed
1
0
1
f
X
0
X X X X
1
0
1
f
X
1
X X X X
1
0
1
f
X
0
X X X X
1
0
1
t
X
0
X X X X
1
1
0
t
1
X
X X X X
1
1
0
f
1
X
X X X X
1
1
0
f
1
X
X X X X
1
1
0
f
1
X
X X X X
1
0
0
t
X
X
X X X X
保持：寄存器预置任意4位二进制数码abed,令CR=1, S,=So=O,加CP脉冲, 观察寄存器输出状态，记录之。
循环移位
将实验内容1接线参照图2进行改接。