波长散射X射线光谱分析.ppt

波长散射X射线光谱分析
光管连续X射线光谱强度公式

称为连续谱 - 克拉马公式
连续X射线光谱的强度计算
I
=KiZ
(l)
l
l
l
min
- 1
1
光路图
Magix仪器的基本特点
仪器基本结构－两种光路设计
kV K 系谱线 L 谱线
60 Fe - Ba Sm - U
50 Cr - Mn Pr - Nd
40 Ti - V Cs - Ce
30 Ca - Sc Sb - I
24 Be - K Ca - Sn
电压 KV 的最佳选择
激发条件选择 － 轻元素
激发轻元素时，采 用 低 电 压，大电流
激发条件选择－重元素
Rhk光谱
MoK吸收限
RhL光谱
连续谱
采用高电压,低电流和RhK光谱激发，如 60KV 50mA
仪器基本结构－ 晶体使用平面和弯曲
分为平面和弯曲两种晶体
晶体的色散本领
不同的晶体和晶面间距具有不 的分辨能力；
最佳晶体的选择
晶体
LiF (420)
LiF (220)
LiF (200)
Ge (111)
Ge(111)C*
InSb(111)
InSb(111)C*
PE (002)
PE(002) C*
2d n









元素 K系
Te - Ni
Te - V
Te - K
Cl - P
Cl - P
Si
Si
Cl - Al
Cl - Al
元 素 L系
U -Hf
U - La
U - In
Cd - Zr
Cd - Zr
Nb - Sr
Nb - Sr
Cd - Br
Cd - Br
* C - 本晶体为横向弯曲型晶体
多层薄膜晶体的选择
晶体
TlAP (100)
PX1
PX3
PX4
PX5
PX6
2d 值
nm

5
20
12
11
30
元素
K 系谱线
Mg - O
Mg - O
B
CN
Be
元素
L 系谱线
Se - V
Se - V
不同分光准直器的适用范围
准直器
100/150 mm
300 mm
700 mm
L - 光谱
U - Pb
U - Ru
Mo - Fe
K - 光谱
Te - As
Te - K
Cl - O
准直器r
150 mm
550 mm
4000 mm
L - 光谱
U - Ru
Mo - Fe
-
K - 光谱
Te - K
Cl - F
O -Be
光学元件－滤光片的作用
1. 消除光管特征线的干扰
2. 微量分析时可提高峰/背比，获得较低的 LLd
3. 减弱初级光束强度
4. 抑制管光谱的光谱杂质
探测器工作原理 : 以X射线的光电效应为基础把X射线
光子转换成可测量的电压脉冲 。
闪烁计数器 : 探测重元素和短波X射线
- (8 - 30 keV)
流气正比计数器 : 轻元素和长波辐射
- 12nm ( - 15 keV)；
封闭正比计数器 : 中间元素和中波长辐射
- 6nm (9 - 11 keV )；
基本结构－探测器(光电转换器)
常用的探测器
流气正比计数器 轻元素探测器 FC
封闭正比计数器 过渡元素探测器 FX
闪烁计数器 重元素探测器 SC
复合探测器 中间元素探测器 Du
结构－流气正比计数器
入射窗口
阳极丝 50μm
放大器
出射窗口
＋HV(1700V)
结构－闪烁计数器
Be窗口
光阴极
倍增极
阳极
闪烁晶体
放大器
1300V
X－荧光光谱仪各部分的作用与参数
激 发 源
样 品
探 测 器
光学系统
电 路
微 机
X光管：激发样品的荧光X射线
样品室：装样品和测量
用晶体分光，选择各元素的荧光谱线
探测器：用光电转换，探测荧光谱线
DMCA计数电路：