金机日常校准作操指引.doc

Meizhou Guo Wei Plastic Mould Technology Co.,Ltd. 工程部运作程序文件号: SGW-WI-PRO-0 11 版本号 0 .0 修订号 00 金机日常校准操作指引生效日期 2013-10-8第1 页,共 3页变更经历修订号日期变更内容修订者编制审核批准日期 Meizhou Guo Wei Plastic Mould Technology Co.,Ltd. 工程部运作程序文件号: SGW-WI-PRO-0 11 版本号 0 .0 修订号 00 金机日常校准操作指引生效日期 2013-10-8第2 页,共 3页一、目的: 本文档主要描述了整机测试金机的使用方法,并用来校准整机测试外部衰减。因装备夹具中的射频电缆属于易损部件,在经过一段时间的磨损后,对于测试指标会产生一定的影响,所以终端装备夹具在使用一段时间后,必须要经过重新校准,以确保生产测试指标。二、金机校准方法: (一)概述——使用条件射频衰减校准必须符合 R&D 或客户输入文件定义的标准。以下任何一种情况必须使用金机重新校准。· 射频线缆的更换。· 射频仪器如综测仪的更换。· 夹具和屏蔽盒的更换。· 每班射频衰减校准主要测量综测仪—射频电缆—屏蔽盒—夹具—手机通路上的射频衰减值。采用金机的校准方法, 金机制作方法见附录。(二)校准仪器主要需要以下仪器和附件射频线缆·整机测试系统·射频校准金机 1个(三)金机使用校准流程金机值如下(示例)每个金机值都标明了整机测试工位各射频测试项参数值,如: WCDMA GSM Db33Db 校准误差以客户文件“金机测试标准”为依据调校。校准步骤操作指引-1、把金机放入测试台进行测试-2、记录测试结果-3、与金机比较算出差值-4、重复步骤 1、 2、 3两次,算出另两个差值。-5、算出三个差值的平均值-6、将平均值补偿入测试系统-7、检查差值 Meizhou Guo Wei Plastic Mould Technology Co.,Ltd. 工程部运作程序文件号: SGW-WI-PRO-0 11 版本号 0 .0 修订号 00 金机日常校准操作指引生效日期 2013-10-8第3 页,共 3页-如果测量出来的发射最大差值不超过 2dB ,且衰减补偿在正常范围之内,就认为装备和衰减补偿正确,否则进行再校准,重复步骤 1、2、3、4、5、6再校准。如果达不到上述要求,换一部金机验证。-8、将新衰减值填入测试程序属性页衰减补偿处。校准判断: 1、如果金机校准在误差范围之内,测试系统良好,可以生产。 2、如果金机的校准超出误差范围,则可以判断为测试系统问题,需要对测试装备检查、维护、分析。三、注意事项金机的有效期为 6个月,超过 6个月要求采用新的金机进行校准。使用过程中,发现金机失效,及时更换。四、附录整机测试金机制作指导书方法一:单板测试获得金机值 特点·操作简单·不需要额外的设备和电缆·不够准确·利用整机测试的射频指标值都在单板测试测量处测量的方法获得金机值 制作准备已校准的单板测试系统射频指标稳定的单板 制作方法-1、记录整机测试需要测试的射频测试项-2、对单板测试系统进行校准-3、选取单板进行单板校准测试-4、对单板进行综测记录整机测试需要的射频指标值 Meizhou Guo Wei