PCT试验方法PCT测试标准PCT试验方法PCT测试标准.docx

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PCT试验方法PCT测试标准PCT试验方法PCT测试标准
PCT试验一般称为压力锅蒸煮试验或是饱和蒸汽试
澡盆曲线：澡盆曲线(Bathtubcurve、失效时期)，又用称为浴缸曲线、微笑曲线，主要是显示产品的于不同时期的失效率，主要包含早夭期(早期失效期)、正常期(随机失效期)、损耗期(退化失效期)，以环境试验的可靠度试验箱来说得话，可以分爲筛选试验、加速寿命试验(耐久性试验)及失效率试验等。进行可靠性试验时"试验设计"、"试验执行"及"试验分析"应作爲一个整体来综合考虑。
常见失效时期：
早期失效期(早夭期，InfantMortalityRegion)：不够完善的生産、存在缺陷的材料、不合适的环境、不够完善的设计。
随机失效期(正常期，UsefulLifeRegion)：外部震荡、误用、环境条件的变化波动、不良抗压性能。
退化失效期(损耗期，WearoutRegion)：氧化、疲劳老化、性能退化、腐蚀。
环境应力与失效关系图说明：
依据美国Hughes航空公司的统计报告显示，环境应力造成电子产品故障的比例来说，高度占2%、盐雾占4%、沙尘占6%、振动占28%、而温湿度去占了高达60%，所以电子产品对于温湿度的影响特别显着，但由于传统高温高湿试验(如：40℃/90%.、85℃/85%.、60℃/95%.)所需的时间较长，为了加速材料的吸湿速率以及缩短试验时间，可使用加速试验设备(HAST[高度加速寿命试验机]、PCT[压力锅])来进行相关试验，也就所谓的(退化失效期、损耗期)试验。
θ10℃法则：讨论産品寿命时，一般采用[θ10℃法则]的表达方式，简单的说明可以表达爲[10℃规则]，当周围环境温度上升10℃时，産品寿命就会减少一半；当周围环境温度上升20℃时，産品寿命就会减少到四分之一。
这种规则可以说明温度是如何影响産品寿命(失效)的，相反的产品的可靠度试验时，也可以利用升高环境温度来加速失效现象发生，进行各种加速寿命老化试验。
湿气所引起的故障原因：水汽渗入、聚合物材料解聚、聚合物结合能力下降、腐蚀、空洞、线焊点脱开、引线间漏电、芯片与芯片粘片层脱开、焊盘腐蚀、金属化或引线间短路。
水汽对电子封装可靠性的影响：腐蚀失效、分层和开裂、改变塑封材料的性质。
铝线中産生腐蚀过程：
①水气渗透入塑封壳内→湿气渗透到树脂和导线间隙之中
②水气渗透到芯片表面引起铝化学反应
加速铝腐蚀的因素：
①树脂材料与芯片框架接口之间连接不够好(由于各种材料之间存在膨胀率的差异)
②封装时，封装材料掺有杂质或者杂质离子的污染(由于杂质离子的出现)
③非活性塑封膜中所使用的高浓度磷
④非活性塑封膜中存在的缺陷
爆米花效应(PopcornEffect)：
说明：原指以塑料外体所封装的IC，因其芯片安装所用的银膏会吸水，一旦末加防范而径行封牢塑体后，在下游组装焊接遭遇高温时，其水分将因汽化压力而造成封体的爆裂，同时还会发出有如爆米花般的声响，故而得名，%时，[爆米花]现象就会发生。近来十分盛行P-BGA的封装组件，不但其中银胶会吸水，且连载板之基材也会吸水，管理