一种用于锗晶体电阻率测量的测量架的制作方法.docx

一种用于锗晶体电阻率测量的测量架的制作方法
一种用于锗晶体电阻率测量的测量架的制作方法
一种用于锗晶体电阻率测量的测量架，底座中部设有互相平行的两条导轨，导轨上设有轴承，轴承之间通过连接板固定连接；底板通过回转轴承设置在连接板上；底板周一种用于锗晶体电阻率测量的测量架的制作方法
一种用于锗晶体电阻率测量的测量架的制作方法
一种用于锗晶体电阻率测量的测量架，底座中部设有互相平行的两条导轨，导轨上设有轴承，轴承之间通过连接板固定连接；底板通过回转轴承设置在连接板上；底板周缘设有若干立柱，立柱上端设有横臂，横臂可以自由移动，且由紧固螺丝固定在立柱上；横臂的前端套设有触头，通过横臂侧面的螺丝固定在横臂的前端；触头末端带有倾角，具有限位部；底座边缘设有竖杆、辅助架、微调螺杆、探针。本实用新型可使晶体头尾安全地固定住，提高了测试精度，降低了探针的损耗程度，适用于不同尺寸的锗晶体头尾的固定，可固定直径大于5mm的任何锥角及平面晶体头尾，操作简单，方便实用，测试精度高，固定后的晶体可随意移动、转动，便于测量。
【专利说明】—种用于锗晶体电阻率测量的测量架
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及晶体测量【技术领域】，特别涉及一种用于锗晶体电阻率测量的测量架。
【背景技术】
[0002]锗晶体电阻率测试有严格的温度要求，测试前需将晶体置于恒温环境内进行恒定，待晶体温度在23°C ( ±°C )时进行测试。
[0003]然而，锗晶体的头部呈圆锥形，锥角随着实际的晶体拉制需要而变化，还经常有不对称的情况发生，并且晶体的尺寸也不固定，另外，晶体的尾部也因为在拉制过程结束后，由于提断会粘连一部分液体，液体在晶体上凝固过程中，在重力的作用下，会在晶体尾部中心附近形成一个尖状突起，这样使晶体头部和尾部在测量电阻率时难以固定，用手把持会改变晶体温度而影响测试精度及结果。
实用新型内容
[0004]本实用新型的目的是提供一种用于锗晶体电阻率测量的测量架，其可以使晶体头尾安全地被固定住，提高测试精度，降低探针的损耗程度。
[0005]为实现上述目的，本实用新型采取以下技术方案:
[0006]一种用于锗晶体电阻率测量的测量架，它包括底座，该底座中部设有互相平行的两条导轨，该导轨上设有轴承，两侧轴承之间通过连接板固定连接；一底板通过回转轴承设置在该连接板上；该底板周缘设有若干立柱，每个立柱上端都设有横臂，该横臂通过滑轨可以自由移动，且由紧固螺丝固定在该立柱上；该横臂的前端套设有触头，通过该横臂侧面的螺丝固定在该横臂的前端；该触头末端带有倾角，还具有呈L型的限位部；
[0007]该底座边缘设有竖杆，该竖杆上部套设有辅助架，辅助架末端设有微调螺杆，微调螺杆底端设有用于测试的探针，该探针位于该底板中部上方。
[0008]优选的，所述触头末端倾角为60°。
[0009]进一步的，所述触头末端设有微调螺丝，可以对该触头末端倾角进行1-2°的角度微调。
[0010]进一步的，所述触头末端斜面设有胶皮垫。
[0011]优选的，所述立柱为4个。
[0012]进一步的，所述立柱顶部通过环形的固定板固定连接，所述横臂设于该固定板上。
[0013]本实用新型的有益效果为:本实用新型可使晶体头尾可安全地固定住，提高了测试精度，降低了探针的损耗程度，适用于不同尺寸的锗