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存储器装置的制作方法
专利名称：存储器装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种如权利要求1和2的前序部分所述的装置，亦即一种存储器装置，它具有许多存储数据的存储单元、至少一个比较单元和一个选择装置，所述比较单元可用来检验施加给存储器替换存储单元区来替代这些存储单元或存储单元区。
如果总是利用与不可用存储单元或存储单元区一样地位于存储单元行之内的存储单元或存储单元区来代替不可用的存储单元或存储单元区，那么，(在读出数据时)总是将存储单元行的所有存储单元一起读出，并且(在读出和写入数据时)由选择装置来确定把该选择装置的哪些数据输入及/或输出端分配给哪些存储单元，这样，便可以实现所需的检验和作用，以便替换掉不可用的存储单元或存储单元区，且甚至没有或一定没有值得一提的附加时间耗费。
本发明的优选扩展由从属权利要求、下文说明和附图给出。
下面借助实施例和附图来进一步阐述本发明；图中
图1示出了用替换存储单元或替换存储单元区来替代不可用存储单元或存储单元区的存储器装置的一部分，这在下文将作进一步阐述，以及图2示出了所示类型的存储器装置的原理结构。
在图示的存储装置中，涉及到一种RAM组件，准确地说是一种DRAM组件。但此处必须指出的是，它对本发明并不构成限制。该存储器装置也可以是任何其它用于存储数据的存储器装置。
下文要进一步讲述的存储器装置与文章开头参照附图2时讲解的存储器装置的原理结构相同。
所示存储器装置也具有多个存储单元，其数目多于在存储与可用存储器容量相应的数据时所需的数目，其中，所述的附加存储单元可用作不可按规定读或写的存储单元或存储单元区的替换存储单元或替换存储单元区。
不可按规定读或写的存储单元或存储单元区通过对存储单元的试验来测定。该存储单元或存储单元区的地址通过采用熔丝而寄存到存储器装置之中，在本例中是通过采用可由激光破坏的熔丝F。
在存储器装置的正常工作方式下，利用比较单元VE，施加给该存储器装置的地址与寄存在该存储器装置中的、不可按规定读或写的存储单元或存储单元区的地址进行比较；比较单元VE采用不可按规定读或写的存储单元或存储单元区的地址作为参考地址，且把施加在存储器装置上的地址与它们进行比较。
如果比较单元认为所比较的地址是一致的，则将该信号发送给选择装置AE，于是由该选择装置负责如下工作需往存储器装置中写入的数据不写入到由施加于该存储器装置上的地址所指定的存储单元当中，而是写入到为不可用存储单元所分配的(替换)存储单元当中；而且，需从存储器装置读出的数据不从由施加于该存储器装置上的地址所指定的存储单元中读出，而是从为不可用存储单元所分配的(替换)存储单元中读出。
在所示实施例中，每个存储块都装设有16个比较单元。在此，这些比较单元被划分成均包含有4个比较单元的比较单元库。比较单元库在当前均被指定给一个确定的存储块，这在后文能得到更好的理解。
此处需要指出的是，装设的比较单元可以或多或少，比较单元也可以划分成包含有或多或少比较单元的比较单元库，或者根本就不划分成比较单元库。
每个比较单元都分配有一个自己的参考地址。
当前的比较单元并行地工作，这样，施加给存储器装置的地址都能同时利用所有的比较单元来和其被分配的参考地址进行比较，也就是说同时和所有参考地址进行比较。
由四个比较单元组成的比较单元库及其与