x射线衍射仪的结构与使用.doc

X 射线衍射仪的结构与使用一、实验目的 1 .了解衍射仪的结构与原理。 2 .掌握衍射样品的制备方法。 3. 熟悉实验参量的选择和仪器操作, 并通过实验得到一个 XRD 图谱。二、实验原理(一) 衍射仪的结构及原理 1 、衍射仪是进行 X 射线分析的重要设备,主要由 X 射线发生器、测角仪、记录仪和水冷却系统组成。新型的衍射仪还带有条件输入和数据处理系统。图 1 给出了 X 射线衍射仪框图。 2、X 射线发生器主要由高压控制系统和 X 光管组成,它是产生 X射线的装置,由 X 光管发射出的 X 射线包括连续 X 射线光谱和特征 X 射线光谱,连续 X 射线光谱主要用于判断晶体的对称性和进行晶体定向的劳埃法, 特征 X 射线用于进行晶体结构研究的旋转单体法和进行物相鉴定的粉末法。测角仪是衍射仪的重要部分,其光路图如图 2。X 射线源焦点与计数管窗口分别位于测角仪圆周上,样品位于测角仪圆的正中心。在入射光路上有固定式梭拉狭缝和可调式发射狭缝,在反射光路上也有固定式梭拉狭缝和可调式防散射狭缝与接收狭缝。有的衍射仪还在计数管前装有单色器。当给 X 光管加以高压, 产生的 X 射线图 射线衍射仪框图经由发射狭缝射到样品上时,晶体中与样品表面平行的面网,在符合布拉格条件时即可产生衍射而被计数管接收。当计数管在测角仪圆所在平面内扫射时,样品与计数管以 1:2 速度连动。因此,在某些角位置能满足布拉格条件的面网所产生的衍射线将被计数管依次记录并转换成电脉冲信号,经放大处理后通过记录仪描绘成衍射图。(二) 衍射实验方法 X 射线衍射实验方法包括样品制备、实验参数选择和样品测试。 1 、样品制备在衍射仪法中,样品制作上的差异对衍射结图 2. 测角仪光路示意图果所产生的影响, 要比照相法中大得多。因此,1、测角仪圆,2、试样,3、滤波片,S 光源, 制备符合要求的样品, 是衍射仪实验技术中的重 S1、 S2梭拉狭缝,K 发散狭缝,L 防散射狭缝, 要的一环,通常制成平板状样品。衍射仪均附有 F 接收狭缝,C 计数管。表面平整光滑的玻璃或铝质的样品板,板上开有窗孔或不穿透的凹槽,样品放入其中进行测定。 1). 粉晶样品的制备(1) 将被测试样在玛瑙研钵中研成 5μm 左右的细粉; (2) 将适量研磨好的细粉填入凹槽, 并用平整光滑的玻璃板将其压紧; (3) 将槽外或高出样品板面多余粉末刮去,重新将样品压平,使样品表面与样品板面一样平齐光滑。 2). 特殊样品的制备对于金属、陶瓷、玻璃等一些不易研成粉末的样品, 可先将其锯成窗孔大小,磨平一面,再用橡皮泥或石蜡将其固定在窗孔内。对于片状、纤维状或薄膜样品也可取窗孔大小直接嵌固在窗孔内。但固定在窗孔内的样品其平整表面必须与样品板平齐,并对着入射 X 射线。 2 、测量方式和实验参数选择 1). 测量方式衍射测量方式有连续扫描和步进扫描法。连续扫描法是由脉冲平均电路混合成电流起伏, 而后用长图记录仪描绘成相对强度随 2θ变化的分布曲线。步进扫描法是由定标器定时或定数测量, 并由数据处理系统显示或打印,或由绘图仪描绘成强度随 2θ变化的分布曲线。不论是哪一种测量方式, 快速扫描的情况下都能相当迅速地给出全部衍射花样, 它适合于物质的预检, 特别适用于对物质进行鉴定或定性估计。对衍射花样局部做非常慢的扫描, 适合于精细区分衍射花样的细节和进行定量的测量。例如, 混合物相的定量分析, 精确的晶面间距测定、晶粒尺寸和点阵畸变的研究等。 2). 实验参数选择(1) 狭缝:狭缝的大小对衍射强度和分辨率都有影响。大狭缝可得较大的衍射强度。但降低分辨率, 小狭缝提高分辨率但损失强度, 一般如需要提高强度时宜选取大些狭缝, 需要高分辨率时宜选小些狭缝, 尤其是接收狭缝对分辨率影响更大。每台衍射仪都配有各种狭缝以供选用。(2) 时间常数和预置时间:连续扫描测量中采用时间常数,客观存在是指计数率仪中脉冲平均电路对脉冲响应的快慢程度。时间常数大, 脉冲响应慢, 对脉冲电流具有较大的平整作用, 不易辨出电流随时间变化的细节, 因而, 强度线形相对光滑, 峰形变宽, 高度下降, 峰形移向扫描方向; 时间常数过大, 还会引起线形不对称, 使一条线形的后半部分拉宽。反之, 时间常数小, 能如实绘出计数脉冲到达速率的统计变化, 易于分辨出电流时间变化的细节, 使弱峰易于分辨, 衍射线形和衍射强度更加真实。计数率仪均配有多种可供选择的时间常数。步进扫描中采用预置时间来表示定标器一步之内的计数时间, 起着与时间常数类似的作用,也有多种可供选择的方式。(3) 扫描速度和步宽连续扫描中采用的扫描速度是指计数器转动的角速度。慢速扫描可使计数器在某衍射角度范围内停留的时间更长, 接收的脉冲数目更多, 使衍射数据更加可靠。但需要花费较长的时间,