第十五章X射线光谱与电子能谱分析法
第三节
X射线衍射分析
一、晶体特性
property of crystal
二、多晶粉末衍射分析法
multiple crystal powder diffraction analysis
三、单晶衍射分析法
single crystal diffraction analysis
X-ray spectrometry and electron spectroscopy
X-ray diffraction analysis
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一、晶体特性 property of crystal
晶体:原子、离子、分子在空间周期性排列而构成的固态物,三维空间点阵结构;点阵+ 结构基元;
晶胞:晶体中空间点阵的单位,晶体结构的最小单位;
晶胞参数:三个向量a、b、c,及夹角、、;
r,s,t;1/r,1/s,1/t:晶面在三个晶轴上的截数和倒易截数
1/r∶1/s∶1/t=h∶k∶l;晶面(110)与C 轴平行;
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二、多晶粉末衍射分析 multiple crystal powder diffraction analysis
在入射X光的作用下,原子中的电子构成多个X辐射源,以球面波向空间发射形成干涉光;
强度与原子类型、晶胞内原子位置有关;
衍射图:晶体化合物的“指纹”;
多晶粉末衍射法:测定立方晶系的晶体结构;
单色X射线源
样品台
检测器
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X射线衍射仪与X射线荧光仪相似;主要区别:
(1) 单色X射线源;
(2) 不需要分光晶体;
试样本身为衍射晶体,试样平面旋转;光源以不同角对试样进行扫描;
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Bugger 方程: 2d sin= n
将晶面间距d和晶胞参数a的关系带入:
由测定试样晶体的衍射线出现情况,可确定晶体结构类型;
例:求Al的晶胞参数,用Cu(K1) 射线( =)照射样品,选取= °的衍射线(3 3 3),则:
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三、单晶衍射分析 single crystal diffra
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