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大学英语四级介绍.ppt


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分类号:矶斗 单位代码:10422
密级:公贡 学 号:弘|Ⅺt铆8
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SHANDONG UNlVERSITY
硕士学位论文
Thesis for Master Degree
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作者姓名 孪福杰培养单位鞫设学防专业名称 堡垒垦堡兰墨指导教师 至墅翌壅壑丝合作导师垫盈型塑堑恿
≯I§年 箩月 男日
万方数据
原创性声明
本人郑重声明:所呈交的学位论文,是本人在导师的指导下, 独立进行研究所取得的成果。除文中已经注明引用的内容外,本论文不包含任何其他个人或集体已经发表或撰写过的科研成果。对本文的研究作出重要贡献的个人和集体,均已在文中以明确方式标明。本声明的法律责任由本人承担。
论文作者签名:蕉!暨垄 日期:趁笸,耋塞
关于学位论文使用授权的声明
本人完全了解山东大学有关保留、使用学位论文的规定,同意学校保留或向国家有关部门或机构送交论文的复印件和电子版,允许论文被查阅和借阅;本人授权山东大学可以将本学位论文的全部或部分内容编入有关数据库进行检索,可以采用影印、缩印或其他复制手段保存论文和汇编本学位论文。
(保密论文在解密后应遵守此规定)
论文作者签名:冱墼导师签名:五幽垒日期:丝堕£扩
万方数据
山东大学硕士学位论文
摘要
集成电路产业发展迅速,在单个芯片上集成的系统也越来越复杂,在片上系统中需要的存储器诸如SRAM、FLASH的容量也越来越大;同时集成电路的工作环境也越来越复杂,环境中存在着各种辐射源,加之集成电路工艺的不断发展, 使得半导体芯片极易受到外部的干扰而导致功能失效。工作在太空中的集成电路
芯片极易受到各种高能粒子的干扰出现单粒子翻转效应即SEU(Signal Event Upset):由于低功耗的需求,使得集成系统的工作电压越来越低,使得电路在同样辐射环境下对外界的抗干扰能力更弱,存储器中出现多比特反转MBU(Multiple Bit Upset)的概率就更大。针对单粒子反转的加固方法将不再适用,此时,用于(Error Control Code)码发挥了至关重要的作用。在工业民
用领域也是如此,集成电路也容易受到电磁辐射的干扰而出现功能失效。事实表明,无论是在航天领域还是在民用领域,对系统中的存储器采用差错控制编码(ECC)是提高芯片可靠性的行之有效的措施。
文章首先介绍了各种固态存储器,分析了SRAM和FLASH的结构以及出错
机理,纠错码的必要性。
其次,的研究背景与发展前景,算法进行了研究,介绍了二元域的基础理论以及运算,包括应用于纠正单比特错误的Hamming码,应用于纠正多位错误的BCH码以及符号纠错码RS码。分析了 BCH码、RS码的构造方式以及编译码算法。
最后,对各种编码方法进行了软件matlab的仿真以及硬件的Verilog实现, 并搭建了针对存储器加固的FPGA模块,在模块中加入BCH码进行了仿真测试。
关键词:ECC;存储器加固;BCH码;RS码
万方数据
山东大学硕士学位论文
ABSTRACT
System integrated on a single chip e more and plex because of the development of integrated circuit capacity of memory such as SRAM and FLASH needed in the system is also growing,the size of process is decreasing
because of the continues development of integrated circuit process,which lead to the
failure of the semiconductor transistorthe and system.
In the aerospace industry,the memories are easy to appear SEU because the semiconductor transistors are vulnerable to the impact of space radiation and energetic transistors are also vulnerable to the ic
radiation in the industrial and civilian anti-jammi

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  • 时间2018-05-03