晶体管阈值电压晶体管阈值电压(Thresholdvoltage): 场效应晶体管(FET)的阈值电压就是指耗尽型FET的夹断电压与增强型FET的开启电压。(1)对于JFET: 耗尽型JFET的沟道掺杂浓度越高,原始沟道越宽,则夹断电压就越高;温度升高时,由于本征载流子浓度的提高和栅结内建电势的减小,则夹断电压降低。对于长沟道JFET,一般只有耗尽型的器件;SIT(静电感应晶体管)也可以看成为一种短沟道JFET,该器件就是增强型的器件。(2)对于MOSFET: *增强型MOSFET的阈值电压VT是指刚刚产生出沟道(表面强反型层)时的外加栅电压。①对于理想的增强型MOSFET(即系统中不含有任何电荷状态,在栅电压Vgs=0时,半导体表面的能带为平带状态),阈值电压可给出为VT=(SiO2层上的电压Vi)+2ψb=-[2εεoqNa(2ψb)]/Ci+2ψb,式中Vi≈(耗尽层电荷Qb)/Ci,Qb=-(2εεoqNa[2ψb]),Ci是单位面积的SiO2电容,ψb是半导体的Fermi势(等于本征Fermi能级Ei与Ef之差)。②对于实际的增强型MOSFET,由于金属-半导体功函数差φms和Si-SiO2系统中电荷的影响,在Vgs=0时半导体表面能带即已经发生了弯曲,从而需要另外再加上一定的电压——“平带电压”才能使表面附近的能带与体内拉平。因为金属-半导体的功函数差可以用Fermi势来表示:φms=(栅金属的Fermi势ψG)-(半导体的Fermi势ψB),ψb=(kT/q)ln(Na/ni),对多晶硅栅电极(通常是高掺杂),ψg≈±[+用于p型,-用于n型栅]。而且SiO2/Si系统内部和界面的电荷的影响可用有效界面电荷Qf表示。从而可给出平带电压为Vfb=φms-Qf/Ci。所以,实际MOSFET的阈值电压为VT=-[2εεoqNa(2ψb)]/Ci+2ψb+φms-Qf/Ci。进一步,若当半导体衬底还加有反向偏压Vbs时,则将使沟道下面的耗尽层宽度有一定的增厚,从而使阈值电压变化为:VT=-[2εεoqNa(2ψb+Vbs)]/Ci+2ψb+φms-Qf/Ci。在制造MOSFET时,为了获得所需要的VT值和使VT值稳定,就需要采取若干有效的技术措施;这里主要是控制Si-SiO2系统中电荷Qf:其中的固定正电荷(直接影响到VT值的大小)与半导体表面状态和氧化速度等有关(可达到<1012/cm2);而可动电荷(影响到VT值的稳定性)与Na+等的沾污有关。因此特别需要注意在氧化等高温工艺过程中的清洁度。*耗尽型MOSFET的阈值电压VT是指刚好夹断沟道时的栅极电压。情况与增强型器件的类似。(3)对于BJT,阈值电压VTB是指输出电流Ic等于某一定值Ict(如1mA)时的Vbe值。由VTB=(kT/q)ln(Ict/Isn)得知:a)凡是能导致Ic发生明显变化的因素(如掺杂浓度和结面积等),却对VTB影响不大,则BJT的VTB可控性较好;b)VTB对于温度很敏感,将随着温度的升高而灵敏地降低,则可用VTB值来感测温度。[1]MOS阈值电压VT阈值电压vt是mos晶体管一个显要电型号参数,也是在制造工艺中显要控制型号参数。vt大小对及一致性对电路乃到电子集成系统性能具有决定性影响。多少因素将对mos晶体管阈值电压值产生影响呢?阈值电压数学表达式是:
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