X-R图(均值-极差图).doc

X-R图(均值-极差图)X-R图如下图所示。图在上,下面是R图,数据栏可单独,也可根据实际情况将数据栏放在R图下边,这样可以更清楚。值和R值为纵坐标,按时间先后的样本为横坐标。 :,如每30分钟抽5件。测量并记录数据。计算每个样本均值和极差R=(X1+X2+…+Xn)/n                                         式 1R=Xmax - Xmin                                                  式 2式中:X1……Xn——样本内质量特性测量值Xmax——样本内最大值    Xmin——样本内最小值确定控制图的刻度纵坐标为和R的测量值,横坐标为时间。坐标刻度的选择:一般情况X图:上刻度线=+2R下刻度线=-2RR图:上刻度线=2R下刻度线=0上式中的和R均为第一样本的计算结果也可根据实际情况选择刻度。将和R的测量值画在控制图上。(中心线)R平均=(R1+R2+…+RK)/K                                        式 3X平均=(X1+X2+…+XK)/K                                    式 4:计算极差和均值控制的上下限极差R 上限 UCLR=D4                                                           下限 LCLR=D3                                      式 5      均值 上限 UCL=+A2下限 LCL=–A2                                        式 6式中:D3、D4、A2为常数,可在表2中查得。在控制图上画出控制限——水平实线,UCLR、LCLR、UCL、LCL水平虚线。=R平均/d2 式7d2可在表查得X-R控制图应用实例在一个企业内,统计技术和应用类型很多,而程序文件只能从总的方面规定应用程序,各有关部门和人员在具体实施时,还必须遵照作业指导书的规定进行操作。一个企业应用统计方法的作业指导书有很多,现仅以某电子元件厂电阻器刻槽工序应用的《-x—R控制图作业指导书》为例。-x—R控制图作业指导书(电阻器刻槽工序) 1目的通过控制图的应用,对电阻器刻槽工序的主要质量特性——电阻值,实施控制,消除异常因素的作用,保证刻槽工序处于稳定受控状态。 2适用范围本作业指导书适用于各类薄膜型电阻器(金属膜电阻器、金属氧化膜电阻器、碳膜电阻器)刻槽工序的电阻值控制。 3职责 、控制图打点结果的分析及提出应采取的纠正和预防措施。 ,抽样、测量、计算统计量并在控制图上打点。 、协助车间技术组进行分析,监督控制图的实施及协调纠正和预防措施的落实。 4工作流程 ,车间技术组质量控制工程师在生产过程中,每隔30分钟