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X-R 图(均值 -极差图)
X-R 图(均值 - 极差图)
X-R 图如下图所示。图在上,下面是 R 图,数据栏可单独,也可根据实际情况将数据栏放在 R 图下边,
这样可以更清楚。值和 R 值为纵坐标,按时间先后的样本为横坐标。
1 .和 R 图的作图步骤:
a. 收集数据并制定控制图
收集数据
通常是按一定的周期抽取一定数量的样本,如每 30 分钟抽 5 件。测量并记录数据。
计算每个样本均值和极差 R
=( X1+X2+ … +Xn ) / n 式 1
R=Xmax - Xmin 式 2
式中: X1…… Xn—— 样本内质量特性测量值
Xmax —— 样本内最大值
Xmin —— 样本内最小值
确定控制图的刻度
纵坐标为和 R 的测量值,横坐标为时间。
坐标刻度的选择:一般情况
X 图:
上刻度线 =+2R
下刻度线 =-2R
R 图:
上刻度线 =2R
下刻度线 =0
上式中的和 R 均为第一样本的计算结果
也可根据实际情况选择刻度。将和 R 的测量值画在控制图上。
b. 计算控制限
计算平均极差和过程均值(中心线)
R 平均 =( R 1+R 2+ … +R K) / K 式 3
X 平均 = ( X 1+X 2+ … +XK) / K 式 4
: 计算极差和均值控制的上下限
极差 R 上限 UCLR=D4
下限 LCLR=D3 式 5
均值 上限 UCL= + A2
下限 LCL= –A2 式 6
式中 :D3 、 D4 、 A2 为常数,可在表 2 中查得。
在控制图上画出控制限
—— 水平实线,
UCLR 、 LCLR 、 UCL 、 LCL 水平虚线。
c. 过程能力分析
估计过程能力的标准差
sigma=R 平均 /d2 式 7
d 2 可在表 查得
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X-R 图(均值 -极差图)
X-R 控制图应用实例
在一个企业内,统计技术和应用类型很多,而程序文件只能从总的方面规定应用程序,各有关部门和人员
在具体实施时,还必须遵照作业指导书的规定进行操作。一个企业应用统计方法的作业指导书有很多,现
仅以某电子元件厂电阻器刻槽工序应用的《 -x — R 控制图作业指导书》为例。
-x — R 控制图作业指导书(电阻器刻槽工序)
1 目的
通过控制图的应用, 对电阻器刻槽工序的主要质量特性 —— 电阻值, 实施控制, 消除异常因素的作用,
保证刻槽工序处于稳定受控状态。
2 适用范围
本作业指导书适用于各类薄膜型电阻器(金属膜电阻器、金属氧化膜电阻器、碳膜电阻器)刻槽工序
的电阻值控制。
3 职责
3 .1 车间技术组质量控制工程师负责控制图的设计、 控制图打点结果的分析及提出应采取的纠正和预
防措施。
3 . 2 刻槽工序操作者按作业指导书要求,抽样、测量、计算统计量并在控制图上打点。
3 .3 质管处质量控制工程师负责控制图应用的指导、 协助车间技术组进行分析, 监督控制图的实施及
协调纠正和预防措施的落实。
4 工作流程
4 . 1 预备数据的取得
当确认刻槽工序处于稳定受控状态时,车间技术组质量控制工程师在生产过程中,每隔 30 分钟抽取
容量为 n = 5 的样本,共抽取 25 个样本,分别填入数据