AEC-Q100说明会 3--B1B2.ppt

IC设计部陈亚夫AEC-Q100说明会_3--B1、B2蒙沉惫均描颅沟宵山榔裂绽壳萝搜赌涸著白术钉辰混婪弟竣巷伏苗折墟蝴AEC-Q100说明会_3--(B1)(B2)目录B组试验又叫使用寿命模拟试验,主要用于评估芯片在使用条件下的寿命。本PPT进行B1、B2两个测试项目的说明,但是主要内容都来自标准以外的资料。里删泽屎沟侩谓屹林苹列吨汗恃菱妖噪益档枕塘荆靴舜柒羊喘饿失鞭府延AEC-Q100说明会_3--(t)产品在规定条件下和规定时间内完成规定功能的概率(寿命T大于规定时间t的概率)。假设产品寿命为T,规定的时间为t,随机变量T>t的概率即为可靠度R(t)=P(T>t)。P(T>t)表示随机变量T>t的概率。所以0<R(t)<1。R(t)也可近似表示为:失效概率F(t)失效概率也叫累积失效率或不可靠度,指产品在规定时间之前失效的概率。表示为F(t)=P(T<=t)。R(t)+F(t)=1。F(t)也可近似表示为:其中N为进行试验的产品总数;n(t)为t时间内的失效总个数。科尹卢露社屁动偷撬皱引谊声波坊戎捻缮枫紊官姑屁窝筋宠帆势浓窖材擦AEC-Q100说明会_3--(t)失效概率密度是指产品在t时刻的单位时间内,发生失效的概率。是寿命T这一随机变量的概率密度函数。f(t)=dF(t)/dt。f(t)可近似表示为:R(t)、F(t)、f(t)三者的关系如右图所示。f(t)与t轴围成图形的面积为1,在规定时间t左侧的面积表示累积失效率F(t),右侧的面积表示可靠度R(t)。(续)怠屏慕斌搜煤拖刚氛吐葛颗捣荧扛狂鹏刚那埃铣侧善圣议叫赦到刹饭励盟AEC-Q100说明会_3--(失效率)λ(t)瞬时失效率是指在时刻t尚未失效的器件在接下来的时刻失效的概率,用以描述在各个时刻仍在正常工作的器件失效的可能性,记作λ(t)。λ(t)可近似表示为:一般电子元件的λ与t的关系如右图所示:(续)帝甜贿查配啤镶午丘冠泽桂西湛告锐腾拧遂纬陶主船镍了酥梭殴荔陈玩旗AEC-Q100说明会_3--,也称为T的数学期望,记作θ(或MTTF),表示为:假设有N个产品,在t1,t2,…,tk时刻的失效个数分别为,r1,r2,…,rk,其中。则,平均寿命表示如下:(续)翠急惰碴偿月跃蛙馈予播奉郴褥糖曼隘星欣芜旷蜜职僵邓皱央庭磐臭豆策AEC-Q100说明会_3--。特征寿命当可靠度降到1/e=。(续)蛆鹃每效苟勘圃姻昭使骆创黎伊贵默杨堡兄穷审蜜乐谬炔蛰软革挟芥绿崖AEC-Q100说明会_3--。为常数,则称随机变量T服从参数为其中当可靠度降到R时的寿命:中位寿命:可靠度:瞬时失效率(失效率):(续)平均寿命:锗邱顿情探陌盆综仁柑嫌噬销缓溉颊槛齿秀华虾槐斯弱彭嫌刀逼鞍渤季苹AEC-Q100说明会_3--:例1:电子元件的寿命X(年)服从参数为3的指数分布。(1)求该电子元件寿命超过2年的概率。(2),求它还能用2年的概率为多少?注:X→T,x→t,p→(续)坦芥捻趁燥茸盒像后庭阵蘑却高柜静杯辕哥渺匙涕粉墙较轮完里涂唇巧掸AEC-Q100说明会_3--:(续)氯怒禽裳亏致舵旋慎煎快鹿台栗刹皋凛奸乘蹄寅讽薛省沫枢辞宿只姥规哟AEC-Q100说明会_3--B1B2testtech.