X线头影测量分析 panyLogo通过测量X线头颅定位照相所得的影像,对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构,使对牙颌、颅面的检查诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去,:通过对X片进行分析、测量,从而了解牙颌、panyLogo一、主要应用研究颅面生长发育牙颌、颅面畸形的诊断分析确定错牙合畸形的矫治计划研究矫治中,—横向研究颅面发育同一个体各年龄段---纵向研究颅面发育明确了颅面生长发育机制,快速生长期的年龄、及对颅面生长发育的预测。---“颅面生长发育”、,、颅面的变化治疗前正畸治疗治疗中,、panyLogo局限性标记点的定位都是相对标记时存在个体差异存在种族、性别的差异
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