TR6020实用手册.doc

-6020IC测试机,本IC测试机随货附有”TR-6020硬件使用手册”及”TR-6020软件使用手册”,但为了让您加快对TR-6020IC测试机的学习及应用脚步,特别编写了”TR-6020实用手册”,,由浅入深的介绍给您。本手册的内容将会陆续增加,我们会将有关IC测试的一些测试原理、技巧及经验加入本手册,同时也欢迎IC测试界的先进们,也能提供您宝贵的测试经验加入本手册,让我们相互分享IC测试的乐趣。本手册的内容将会放进本公司的网站内,欢迎Download。我们的连络资料:-Mail:******@.twTel:886-2-28328918Fax:886-2-28310567德律科技股份有限公司测试波形格式TR-6020IC测试机提供NF(No-Format),RTZ(ReturntoZero),RTO(ReturntoOne),SBC(plement)4种波形格式,其详细波形格式如图(一)所示:11100PatternTP11000nsTP21000nsTP31000nsTP41000nsTP51000nsVihNFRTZRTOSBCVilVihVilVihVilVihVilSTARTSTOPSTARTSTOPSTARTSTOPSTARTSTOPSTARTSTOP200ns200ns200ns200ns200ns800ns800ns800ns800ns800ns图(一)一个实际的测试波形,除了NF,RTZ,RTO,SBC波形格式的设定,还需要设定该波形TestPeriod值,TimingGenerator的Start及Stop值,Vih值及Vil值。TestPeriod:即是测试周期(TestCycle/DataRate)。例如:SETTP(1000)表示是每一个周期时间为1000ns。Start:在使用RTO,RTZ,SBC波形格式时,当Start设定时间满足时,测试波形的电位会依照测试Pattern的PatternSymbol有所改变。当测试PatternSymbol为”1”时,测试波形的电位将变成Vih设定值,当测试PatternSymbol为”0”时,测试波形的电位将变成Vil设定值。例如:SETTSTART(“1”,200)表示在一个周期时间内,当周期时间至200ns时,测试波形的高低电位将会依照测试Pattern的Symbol及Vih/Vil设定值内容而变化。Stop:在使用RTO,RTZ,SBC波形格式时,当Stop设定时间满足时,测试波形电位的变化将会依照RTO,RTZ,SBC的设定值而改变。TR-6020IC测试机的TimingGenerator的Resolution是5ns,故Start,Stop及Strobe的最小设定时间单位为5ns,TestPeriod最小设定时间单位为10ns。请注意:当Start设定值为0ns~15ns,Strobe设定值为(TestPeriod值-10ns)到TestPeriod值范围时,IC测试机将无法保证可以在此设定时间值做Start,Stop,Strobe的正常动作,故使用者在设定Start,Stop及Strobe值时,请避免使用该设定值。测试功能说明:Function测试功能说明测试Pattern输出至IC的动作:当IC测试机将测试Pattern输出至ICInputPin时,IC测试机首先会至LocalMemory读取测试Pattern的资料,由于贮放LocalMemory的测试Pattern资料是一些0与1的资料,故IC测试机会使用TestPeriod设定值,TimingGenerator的Start及Stop设定值,Formator的NF(NoFormater),RTO(ReturnToOne),RTZ(ReturnToZero)及SBC(plement)其中之一的设定值,及Driver的Vih或Vil的设定值将讯号产生出来,最后IC测试机会再依照测试Pattern的Symbol设定值决定是否要将此讯号输出至ICInputPin上,当测试Pattern的Symbol设定值为0,1时,IC测试机会输出测试Pattern到ICInputPin,若不是时,则IC测试机不会输出测试Pattern。IC输出讯号的测试比较:当被测试IC的OutputPin有讯号输出时,IC测试机将依照Voh或Vol的设定值将IC的输出讯号变换成0或1的数字讯号,同时再从LocalMemory读取测试Pa